芯片测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110974648.9
申请日
2021-08-24
公开(公告)号
CN113687216A
公开(公告)日
2021-11-23
发明(设计)人
雷江 于长亮
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286
代理人
黄海霞
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试装置 [P]. 
刘琪 ;
吴伟军 ;
林德先 .
中国专利 :CN214374907U ,2021-10-08
[2]
芯片测试装置 [P]. 
陈任佳 ;
林德先 .
中国专利 :CN204102576U ,2015-01-14
[3]
芯片测试装置 [P]. 
孙锐锋 ;
周德祥 ;
刘竣 ;
潘飞 ;
周青 .
中国专利 :CN119125845A ,2024-12-13
[4]
芯片测试装置 [P]. 
吴骁 .
中国专利 :CN220730364U ,2024-04-05
[5]
芯片测试装置 [P]. 
陈任佳 ;
田景均 .
中国专利 :CN204101684U ,2015-01-14
[6]
芯片测试装置 [P]. 
何宁 .
中国专利 :CN114690017A ,2022-07-01
[7]
芯片测试装置 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
美国专利 :CN112309486B ,2024-04-12
[8]
芯片测试装置 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN223377441U ,2025-09-23
[9]
芯片测试装置 [P]. 
张丽丽 .
中国专利 :CN207380082U ,2018-05-18
[10]
芯片测试装置 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN112309486A ,2021-02-02