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芯片测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110974648.9
申请日
:
2021-08-24
公开(公告)号
:
CN113687216A
公开(公告)日
:
2021-11-23
发明(设计)人
:
雷江
于长亮
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286
代理人
:
黄海霞
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-10
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210824
2021-11-23
公开
公开
共 50 条
[1]
芯片测试装置
[P].
刘琪
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘琪
;
吴伟军
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴伟军
;
林德先
论文数:
0
引用数:
0
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0
林德先
.
中国专利
:CN214374907U
,2021-10-08
[2]
芯片测试装置
[P].
陈任佳
论文数:
0
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0
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0
陈任佳
;
林德先
论文数:
0
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0
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0
林德先
.
中国专利
:CN204102576U
,2015-01-14
[3]
芯片测试装置
[P].
孙锐锋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
天芯互联科技有限公司
天芯互联科技有限公司
孙锐锋
;
周德祥
论文数:
0
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0
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机构:
天芯互联科技有限公司
天芯互联科技有限公司
周德祥
;
刘竣
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
天芯互联科技有限公司
天芯互联科技有限公司
刘竣
;
潘飞
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
天芯互联科技有限公司
天芯互联科技有限公司
潘飞
;
周青
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
天芯互联科技有限公司
天芯互联科技有限公司
周青
.
中国专利
:CN119125845A
,2024-12-13
[4]
芯片测试装置
[P].
吴骁
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海晟矽微电子股份有限公司
上海晟矽微电子股份有限公司
吴骁
.
中国专利
:CN220730364U
,2024-04-05
[5]
芯片测试装置
[P].
陈任佳
论文数:
0
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0
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0
陈任佳
;
田景均
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田景均
.
中国专利
:CN204101684U
,2015-01-14
[6]
芯片测试装置
[P].
何宁
论文数:
0
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何宁
.
中国专利
:CN114690017A
,2022-07-01
[7]
芯片测试装置
[P].
蔡振龙
论文数:
0
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0
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0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
蔡振龙
;
基因·罗森塔尔
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
基因·罗森塔尔
.
美国专利
:CN112309486B
,2024-04-12
[8]
芯片测试装置
[P].
赖俊生
论文数:
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0
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0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赖俊生
.
中国专利
:CN223377441U
,2025-09-23
[9]
芯片测试装置
[P].
张丽丽
论文数:
0
引用数:
0
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0
张丽丽
.
中国专利
:CN207380082U
,2018-05-18
[10]
芯片测试装置
[P].
蔡振龙
论文数:
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蔡振龙
;
基因·罗森塔尔
论文数:
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基因·罗森塔尔
.
中国专利
:CN112309486A
,2021-02-02
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