芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420498136.5

申请日：

2014-08-29

公开(公告)号：

CN204101684U

公开(公告)日：

2015-01-14

发明(设计)人：

陈任佳田景均

申请人：

申请人地址：

518108 广东省深圳市龙岗区坂田街道马安堂社区龙景工业区F栋5楼502

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R104 G01R1067

代理机构：

深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334

代理人：

谢志为

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-01-14	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试装置 [P].

陈任佳 ;

林德先 .

中国专利 :CN204102576U ,2015-01-14

[2]

芯片测试装置 [P].

张丽丽 .

中国专利 :CN207380082U ,2018-05-18

[3]

芯片测试装置 [P].

刘琪 ;

吴伟军 ;

林德先 .

中国专利 :CN214374907U ,2021-10-08

[4]

芯片测试装置 [P].

请求不公布姓名 ;

黄学楼 ;

陈东林 ;

郭航旗 ;

夏嵩 .

中国专利 :CN223155145U ,2025-07-25

[5]

芯片测试装置 [P].

熊凯 ;

文亚东 ;

辜诗涛 ;

张亦锋 ;

袁俊 .

中国专利 :CN211086513U ,2020-07-24

[6]

芯片测试装置 [P].

雷江 ;

于长亮 .

中国专利 :CN113687216A ,2021-11-23

[7]

芯片测试装置 [P].

沈琦崧 ;

余玉龙 .

中国专利 :CN206020601U ,2017-03-15

[8]

芯片测试装置 [P].

汤华杰 ;

马文远 ;

陈凝 .

中国专利 :CN221686566U ,2024-09-10

[9]

芯片测试装置 [P].

嵇杰 ;

鲁刚强 .

中国专利 :CN221148846U ,2024-06-14

[10]

芯片测试装置 [P].

孙锐锋 ;

周德祥 ;

刘竣 ;

潘飞 ;

周青 .

中国专利 :CN119125845A ,2024-12-13

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