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用于形成绝缘体上半导体衬底的方法
被引:0
申请号
:
CN202210221859.X
申请日
:
2022-03-09
公开(公告)号
:
CN115565932A
公开(公告)日
:
2023-01-03
发明(设计)人
:
郑有宏
李静宜
蔡嘉雄
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾新竹市新竹科学工业园力行六路8号
IPC主分类号
:
H01L21762
IPC分类号
:
代理机构
:
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人
:
李春秀
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-01-03
公开
公开
2023-01-20
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/762 申请日:20220309
共 50 条
[1]
形成绝缘体上半导体衬底的方法
[P].
陈祈铭
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈祈铭
;
陈逸群
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈逸群
;
蔡嘉雄
论文数:
0
引用数:
0
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0
蔡嘉雄
.
中国专利
:CN115497868A
,2022-12-20
[2]
用于形成绝缘体上半导体(SOI)衬底的方法
[P].
吴政达
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴政达
;
蔡嘉雄
论文数:
0
引用数:
0
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0
蔡嘉雄
;
卢玠甫
论文数:
0
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0
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0
卢玠甫
;
刘冠良
论文数:
0
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0
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0
刘冠良
;
周世培
论文数:
0
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0
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0
周世培
;
郑有宏
论文数:
0
引用数:
0
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0
郑有宏
;
杜友伦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杜友伦
.
中国专利
:CN110875241A
,2020-03-10
[3]
用于制造绝缘体上半导体衬底的方法
[P].
M·波卡特
论文数:
0
引用数:
0
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0
M·波卡特
;
阿诺德·卡斯泰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
阿诺德·卡斯泰
.
中国专利
:CN113597668A
,2021-11-02
[4]
用于制造绝缘体上半导体衬底的方法
[P].
M·波卡特
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索泰克公司
索泰克公司
M·波卡特
;
阿诺德·卡斯泰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索泰克公司
索泰克公司
阿诺德·卡斯泰
.
法国专利
:CN113597668B
,2024-09-13
[5]
绝缘体上半导体衬底、半导体结构及其形成方法
[P].
吴政达
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴政达
;
陈秋桦
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈秋桦
.
中国专利
:CN113206108A
,2021-08-03
[6]
绝缘体上半导体衬底、半导体结构及其形成方法
[P].
吴政达
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
吴政达
;
陈秋桦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
陈秋桦
.
中国专利
:CN113206108B
,2025-01-10
[7]
用于RF应用的绝缘体上半导体衬底
[P].
阿诺德·卡斯泰
论文数:
0
引用数:
0
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0
阿诺德·卡斯泰
;
O·科农丘克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
O·科农丘克
.
中国专利
:CN109075120A
,2018-12-21
[8]
用于射频应用的绝缘体上半导体衬底
[P].
K·扬·皮尔
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
索泰克公司
索泰克公司
K·扬·皮尔
;
克里斯泰勒·维蒂佐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
索泰克公司
索泰克公司
克里斯泰勒·维蒂佐
.
法国专利
:CN113196461B
,2024-11-05
[9]
用于射频应用的绝缘体上半导体衬底
[P].
K·扬·皮尔
论文数:
0
引用数:
0
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0
K·扬·皮尔
;
克里斯泰勒·维蒂佐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
克里斯泰勒·维蒂佐
.
中国专利
:CN113196461A
,2021-07-30
[10]
用于形成薄绝缘体上半导体(SOI)衬底的方法
[P].
吴政达
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴政达
;
蔡嘉雄
论文数:
0
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0
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蔡嘉雄
;
卢玠甫
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0
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0
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卢玠甫
;
曾国华
论文数:
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曾国华
;
周世培
论文数:
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周世培
;
郑有宏
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0
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0
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郑有宏
;
杜友伦
论文数:
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0
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杜友伦
.
中国专利
:CN110828367B
,2020-02-21
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