学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种表贴器件电老化试验工装
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921299453.3
申请日
:
2019-08-12
公开(公告)号
:
CN210834976U
公开(公告)日
:
2020-06-23
发明(设计)人
:
蒲毅
申请人
:
申请人地址
:
610000 四川省成都市高新西区西区大道531号3楼
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R3100
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-06-23
授权
授权
共 50 条
[1]
一种微波器件电老化试验台
[P].
赵会昌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长春半导体有限公司
长春半导体有限公司
赵会昌
;
朱海燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长春半导体有限公司
长春半导体有限公司
朱海燕
.
中国专利
:CN221650503U
,2024-09-03
[2]
老化试验工装夹具
[P].
郑国清
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑国清
;
宁廷强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宁廷强
.
中国专利
:CN207133168U
,2018-03-23
[3]
一种表贴器件老化夹具
[P].
孙佳良
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙佳良
;
陈炜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈炜
;
杨江勤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨江勤
;
张育坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张育坤
;
罗璨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗璨
.
中国专利
:CN212392226U
,2021-01-22
[4]
灯具燃点老化试验工装
[P].
王超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王超
;
汤春峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
汤春峰
;
张亚力
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张亚力
.
中国专利
:CN205210286U
,2016-05-04
[5]
老化试验用工装夹具
[P].
李建英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李建英
;
李琼
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李琼
;
谢宾
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢宾
;
方春娇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方春娇
;
盛柏林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
盛柏林
;
高亚东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高亚东
.
中国专利
:CN203606211U
,2014-05-21
[6]
一种微波器件老化试验装置
[P].
邱云峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱云峰
;
杜勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杜勇
.
中国专利
:CN204903710U
,2015-12-23
[7]
一种微波器件动态老化试验系统
[P].
邱云峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱云峰
;
袁帅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
袁帅
;
袁文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
袁文
.
中国专利
:CN204989343U
,2016-01-20
[8]
一种无局放恒温电老化试验系统
[P].
顾哲屹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
顾哲屹
;
聂洪岩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
聂洪岩
;
姚远航
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
姚远航
.
中国专利
:CN205388641U
,2016-07-20
[9]
一种基于热老化试验的老化试验箱
[P].
许占文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
许占文
;
邱军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱军
;
孙力勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙力勇
;
樊庆东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
樊庆东
;
张辰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张辰
;
崔玉新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
崔玉新
;
徐玉红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐玉红
;
张璐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张璐
;
曹岳铮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曹岳铮
.
中国专利
:CN215448925U
,2022-01-07
[10]
一种通讯器件电源老化集成老化试验箱
[P].
刘丰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘丰
.
中国专利
:CN208420643U
,2019-01-22
←
1
2
3
4
5
→