集成电路、用于维护调试集成电路的方法和接口电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010934303.6

申请日：

2020-09-08

公开(公告)号：

CN112559275A

公开(公告)日：

2021-03-26

发明(设计)人：

黄自力杨阳陈舟熊璐邱震尧

申请人：

申请人地址：

200135 上海市浦东新区含笑路36号银联大厦

IPC主分类号：

G06F11263

IPC分类号：

G06F11273 G06F1340 G06F1342

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

李湘;姜冰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/263 申请日:20200908
2021-03-26	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路和用于集成电路的方法 [P].

布莱恩·J·卡姆普贝尔 ;

温森特·R·万卡纳尔 ;

格莱格里·S·斯柯特 ;

斯里巴兰·森萨纳姆 ;

丹尼尔·C·穆雷 .

中国专利 :CN102157188B ,2011-08-17

[2]

集成电路、以及用于设计集成电路的计算系统和方法 [P].

元孝植 ;

张铭洙 ;

朴炫洙 ;

曹多演 .

中国专利 :CN108205602A ,2018-06-26

[3]

用于集成电路卡的集成电路模块和集成电路卡 [P].

张学仁 ;

K-Y·吴 ;

R·杜卡 .

中国专利 :CN205750831U ,2016-11-30

[4]

集成电路和用于形成集成电路的方法 [P].

林孟汉 ;

谢智仁 .

中国专利 :CN112599530A ,2021-04-02

[5]

集成电路和用于诊断集成电路的方法 [P].

E·奥夫雷 ;

T·梅里斯 ;

P·西里托-奥利维耶 .

法国专利 :CN113945819B ,2024-07-19

[6]

用于制造集成电路的方法和集成电路 [P].

M.莱姆克 ;

S.特根 ;

M.福格特 .

中国专利 :CN103996660B ,2014-08-20

[7]

集成电路和用于诊断集成电路的方法 [P].

E·奥夫雷 ;

T·梅里斯 ;

P·西里托-奥利维耶 .

中国专利 :CN113945819A ,2022-01-18

[8]

集成电路和用于制作集成电路的方法 [P].

K.霍赛尼 ;

J.马勒 ;

I.尼基廷 ;

L.奥索夫斯基 .

中国专利 :CN103681531B ,2014-03-26

[9]

用于形成集成电路的方法和集成电路 [P].

邓立峯 ;

吴伟成 .

中国专利 :CN110634877B ,2019-12-31

[10]

集成电路和用于制造集成电路的方法 [P].

张耀文 ;

徐晨祐 ;

郑光茗 ;

蔡正原 .

中国专利 :CN108172560A ,2018-06-15

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