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晶圆位置检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201822036076.6
申请日
:
2018-12-05
公开(公告)号
:
CN208954953U
公开(公告)日
:
2019-06-07
发明(设计)人
:
王昕昀
孟杰
薛波
吴龙江
林宗贤
申请人
:
申请人地址
:
223300 江苏省淮安市淮阴区长江东路599号
IPC主分类号
:
H01L2167
IPC分类号
:
H01L2166
代理机构
:
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294
代理人
:
孙佳胤;陈丽丽
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-06-07
授权
授权
共 50 条
[1]
晶圆位置检测装置、晶圆位置检测方法
[P].
袁林涛
论文数:
0
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0
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0
袁林涛
.
中国专利
:CN110729216A
,2020-01-24
[2]
晶圆位置检测装置
[P].
朱兵
论文数:
0
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0
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机构:
苏州埃缇益自动化科技有限公司
苏州埃缇益自动化科技有限公司
朱兵
.
中国专利
:CN220856495U
,2024-04-26
[3]
晶圆位置检测装置及半导体检测设备
[P].
孙炳晖
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0
机构:
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司
孙炳晖
.
中国专利
:CN117711966A
,2024-03-15
[4]
腔内晶圆位置检测装置及检测方法
[P].
王兆祥
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机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
王兆祥
;
吴磊
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机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
吴磊
;
梁洁
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机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
梁洁
;
涂乐义
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机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
涂乐义
;
谭小龙
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机构:
上海谙邦半导体设备有限公司
上海谙邦半导体设备有限公司
谭小龙
.
中国专利
:CN118173475A
,2024-06-11
[5]
晶圆检测方法及晶圆检测装置
[P].
苏旭文
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机构:
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
西安奕斯伟材料科技股份有限公司
苏旭文
.
中国专利
:CN119601486A
,2025-03-11
[6]
晶圆位置检测装置和检测方法
[P].
王坚
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王坚
;
赵宇
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赵宇
;
吴均
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吴均
;
陈福发
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陈福发
;
王晖
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王晖
.
中国专利
:CN103515264A
,2014-01-15
[7]
半导体晶圆位置检测装置
[P].
李轩
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李轩
;
夏世伟
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夏世伟
;
杰夫·贝克
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杰夫·贝克
;
杨立军
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杨立军
;
孟庆栋
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孟庆栋
.
中国专利
:CN217086532U
,2022-07-29
[8]
晶圆位置调整装置
[P].
丁洋
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丁洋
;
崔亚东
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崔亚东
;
王永昌
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王永昌
;
陈章晏
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陈章晏
;
颜超仁
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颜超仁
.
中国专利
:CN209496850U
,2019-10-15
[9]
晶圆位置检测装置以及半导体加工设备
[P].
王昕昀
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0
王昕昀
;
代恒双
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代恒双
;
靳航
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靳航
;
吴龙江
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吴龙江
;
林宗贤
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林宗贤
.
中国专利
:CN208806227U
,2019-04-30
[10]
一种晶圆位置检测装置
[P].
陈增亮
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机构:
深圳米飞泰克科技股份有限公司
深圳米飞泰克科技股份有限公司
陈增亮
;
魏寅
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机构:
深圳米飞泰克科技股份有限公司
深圳米飞泰克科技股份有限公司
魏寅
;
刘乐
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机构:
深圳米飞泰克科技股份有限公司
深圳米飞泰克科技股份有限公司
刘乐
;
曾岩
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机构:
深圳米飞泰克科技股份有限公司
深圳米飞泰克科技股份有限公司
曾岩
;
吴志军
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机构:
深圳米飞泰克科技股份有限公司
深圳米飞泰克科技股份有限公司
吴志军
;
李安平
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机构:
深圳米飞泰克科技股份有限公司
深圳米飞泰克科技股份有限公司
李安平
.
中国专利
:CN220820260U
,2024-04-19
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