一种便于使用的测试探针

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202021455952.X
申请日
2020-07-22
公开(公告)号
CN212693885U
公开(公告)日
2021-03-12
发明(设计)人
汪旭东 刘正君 洪涛 郭剑 谢石坤
申请人
申请人地址
430000 湖北省武汉市东西湖区辛安渡办事处徐家台1号(15)
IPC主分类号
G01R2720
IPC分类号
G01R3162 G01R104
代理机构
长沙鑫泽信知识产权代理事务所(普通合伙) 43247
代理人
尹锋
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试探针组件 [P]. 
何西山 ;
何西江 .
中国专利 :CN220983362U ,2024-05-17
[2]
一种便于更换的半导体测试探针 [P]. 
王睿 .
中国专利 :CN214041489U ,2021-08-24
[3]
一种便于安装的半导体测试探针 [P]. 
杜永亿 .
中国专利 :CN216350853U ,2022-04-19
[4]
一种便于安装的半导体测试探针 [P]. 
杨斌 ;
黄峰荣 ;
何亮 ;
曾绍娟 .
中国专利 :CN217820523U ,2022-11-15
[5]
一种便于更换的半导体测试探针 [P]. 
尤红权 .
中国专利 :CN221765551U ,2024-09-24
[6]
一种电流测试探针 [P]. 
黄利红 .
中国专利 :CN220603558U ,2024-03-15
[7]
测试探针 [P]. 
蔡兴杰 .
中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19
[8]
测试探针 [P]. 
蔡宗明 ;
曾翔 ;
蔡明峻 ;
李尧 .
中国专利 :CN213750022U ,2021-07-20
[9]
测试探针 [P]. 
赵悦春 ;
冯志永 ;
邹健 ;
孙谢杨 ;
陈骏 ;
李建鹏 ;
张浩 ;
孙昊 ;
赵峥 ;
王爱政 ;
朱凯 ;
朱爽 .
中国专利 :CN223411879U ,2025-10-03
[10]
一种测试探针 [P]. 
王剑 ;
王焱 .
中国专利 :CN206420919U ,2017-08-18