一种芯片的测试电路及测试系统

被引：0

申请号：

CN202220325402.9

申请日：

2022-02-17

公开(公告)号：

CN216900809U

公开(公告)日：

2022-07-05

发明(设计)人：

陈立志

申请人：

申请人地址：

201199 上海市闵行区秀文路908弄2号1201室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

柳虹

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-05	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片的测试电路、方法以及测试系统 [P].

陈立志 .

中国专利 :CN114518527A ,2022-05-20

[2]

芯片测试电路和芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28

[3]

一种测试电路及芯片测试系统 [P].

杨兆喃 ;

胡渊 .

中国专利 :CN223679299U ,2025-12-16

[4]

一种接口芯片测试电路及测试系统 [P].

明迪生 ;

陶利春 .

中国专利 :CN221174873U ,2024-06-18

[5]

芯片管脚测试电路及测试系统 [P].

罗春艺 ;

李刚 .

中国专利 :CN215866993U ,2022-02-18

[6]

辅助测试电路及具有该辅助测试电路的芯片及电路板 [P].

舒礼盛 ;

庄宗仁 ;

翁世芳 .

中国专利 :CN103472347A ,2013-12-25

[7]

一种测试芯片的测试电路 [P].

全光浩 ;

崔松一 .

中国专利 :CN222838157U ,2025-05-06

[8]

芯片测试电路及测试系统 [P].

王旭 ;

刘杰 ;

田强 ;

勾俊全 .

中国专利 :CN220552940U ,2024-03-01

[9]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20

[10]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25

← 1 2 3 4 5 →