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芯片测试电路及测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202321370115.0
申请日：
2023-05-31
公开(公告)号：
CN220552940U
公开(公告)日：
2024-03-01
发明(设计)人：
王旭
刘杰
田强
勾俊全
申请人：
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址：
310000 浙江省杭州市滨江区聚才路410号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R35/00
代理机构：
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人：
张文华
法律状态：
专利申请权、专利权的转移
国省代码：
浙江省
杭州市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-12-10 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移IPC(主分类):G01R 31/28登记生效日:20241125变更事项:专利权人变更前权利人:杭州长川科技股份有限公司变更后权利人:长迈半导体（成都）有限公司变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:310000 浙江省杭州市滨江区聚才路410号变更后权利人:610096 四川省成都市武侯区成都高新区合顺路2号5栋1-5层1、2号（自编号） |
| 2024-03-01 | 授权 | 授权 |