测试电路板结构及芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311728314.9

申请日：

2023-12-15

公开(公告)号：

CN119780660A

公开(公告)日：

2025-04-08

发明(设计)人：

黄柏樵

申请人：

新唐科技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾新竹科学工业园区

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

H05K1/02

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

王涛

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231215
2025-04-08	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968A ,2022-09-20

[2]

芯片测试电路、自测试芯片及芯片测试系统 [P].

历广绪 ;

张俊 .

中国专利 :CN115078968B ,2024-06-25

[3]

芯片测试电路和芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28

[4]

芯片测试电路及测试系统 [P].

王旭 ;

刘杰 ;

田强 ;

勾俊全 .

中国专利 :CN220552940U ,2024-03-01

[5]

芯片测试方法、测试电路及测试系统 [P].

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117723936A ,2024-03-19

[6]

一种测试电路及芯片测试系统 [P].

杨兆喃 ;

胡渊 .

中国专利 :CN223679299U ,2025-12-16

[7]

一种用于芯片测试的电路板、芯片测试系统及方法 [P].

李辉 .

中国专利 :CN113466657B ,2021-10-01

[8]

芯片测试结构以及芯片测试系统 [P].

邹玉生 ;

裴聪健 .

中国专利 :CN217213013U ,2022-08-16

[9]

芯片管脚测试电路及测试系统 [P].

罗春艺 ;

李刚 .

中国专利 :CN215866993U ,2022-02-18

[10]

电路板结构和电路测试方法 [P].

黄赛娟 .

中国专利 :CN114938568A ,2022-08-23

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