一种用于检测Cu2+的碳量子点材料的制备方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510270320.3
申请日
2015-05-25
公开(公告)号
CN104927847B
公开(公告)日
2015-09-23
发明(设计)人
陈建荣 于晶 林红军 仲淑贤 王爱军
申请人
申请人地址
321004 浙江省金华市迎宾大道688号
IPC主分类号
C09K1165
IPC分类号
G01N2164
代理机构
杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231
代理人
张宇娟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[21]
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