光谱仪及光谱分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510104104.1

申请日：

2015-03-10

公开(公告)号：

CN104713647A

公开(公告)日：

2015-06-17

发明(设计)人：

张美英

申请人：

申请人地址：

361004 福建省厦门市思明区禾祥西路230号602室

IPC主分类号：

G01J328

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-10	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01J 3/28 申请公布日:20150617
2015-06-17	公开	公开
2016-06-08	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101663710230 IPC(主分类):G01J 3/28 专利申请号:2015101041041 申请日:20150310

共 50 条

[1]

光谱仪及光谱分析方法 [P].

李锐 ;

韩双来 ;

寿淼钧 ;

俞晓峰 ;

喻正宁 ;

吕全超 ;

夏晓峰 .

中国专利 :CN105486406A ,2016-04-13

[2]

光谱仪及光谱分析方法 [P].

袁洪平 ;

廖乘胜 ;

曾立波 ;

方润 ;

易峰 .

中国专利 :CN118883483A ,2024-11-01

[3]

光谱分析仪以及光谱分析方法 [P].

渡正博 ;

尾崎幸洋 .

中国专利 :CN102364328A ,2012-02-29

[4]

用于对试样进行光谱分析的光谱仪 [P].

米夏埃尔·巴尔特 ;

拉尔夫-皮特·京特 ;

卡斯滕·林迪希 ;

京特·鲁道夫 ;

塞巴斯蒂安·坦纳特 ;

斯特芬·瓦格纳 .

德国专利 :CN120344837A ,2025-07-18

[5]

一种光谱仪系统和光谱分析方法 [P].

孟宪芹 ;

王维 ;

谭纪风 ;

陈小川 ;

孟宪东 ;

高健 ;

王方舟 .

中国专利 :CN108956469B ,2018-12-07

[6]

光谱分析装置、光谱分析系统和光谱分析方法 [P].

林田纯弥 ;

柿下容弓 ;

服部英春 ;

堀入纯 .

日本专利 :CN120112781A ,2025-06-06

[7]

光谱传感器、光谱传感器模块和光谱仪以及光谱分析方法 [P].

韩承勋 ;

朴弘圭 ;

李文淑 ;

赵成豪 .

中国专利 :CN105092035A ,2015-11-25

[8]

光谱分析用池、光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

上野楠夫 ;

村上达希 ;

箕轮大辉 .

日本专利 :CN121057932A ,2025-12-02

[9]

光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

西村克美 .

中国专利 :CN107367469B ,2017-11-21

[10]

光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

冯胜 .

中国专利 :CN115343227A ,2022-11-15

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