光谱仪及光谱分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411338791.9

申请日：

2024-09-25

公开(公告)号：

CN118883483A

公开(公告)日：

2024-11-01

发明(设计)人：

袁洪平廖乘胜曾立波方润易峰

申请人：

台州精奥矩阵科技有限公司

申请人地址：

317004 浙江省台州市临海市大田街道方家弄村臻城创业园研发楼5楼5001

IPC主分类号：

G01N21/35

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

北京天同知创知识产权代理事务所(普通合伙) 16046

代理人：

郭鹏

法律状态：

公开

国省代码：

浙江省台州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-01	公开	公开
2025-10-21	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G01N 21/35申请公布日:20241101
2024-11-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/35申请日:20240925

共 50 条

[1]

光谱仪及光谱分析方法 [P].

李锐 ;

韩双来 ;

寿淼钧 ;

俞晓峰 ;

喻正宁 ;

吕全超 ;

夏晓峰 .

中国专利 :CN105486406A ,2016-04-13

[2]

光谱仪及光谱分析方法 [P].

张美英 .

中国专利 :CN104713647A ,2015-06-17

[3]

光谱分析仪以及光谱分析方法 [P].

渡正博 ;

尾崎幸洋 .

中国专利 :CN102364328A ,2012-02-29

[4]

一种光谱仪系统和光谱分析方法 [P].

孟宪芹 ;

王维 ;

谭纪风 ;

陈小川 ;

孟宪东 ;

高健 ;

王方舟 .

中国专利 :CN108956469B ,2018-12-07

[5]

光谱分析装置、光谱分析系统和光谱分析方法 [P].

林田纯弥 ;

柿下容弓 ;

服部英春 ;

堀入纯 .

日本专利 :CN120112781A ,2025-06-06

[6]

光谱分析用池、光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

上野楠夫 ;

村上达希 ;

箕轮大辉 .

日本专利 :CN121057932A ,2025-12-02

[7]

光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

西村克美 .

中国专利 :CN107367469B ,2017-11-21

[8]

光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

冯胜 .

中国专利 :CN115343227A ,2022-11-15

[9]

光谱分析系统以及光谱分析方法 [P].

藤里砂 ;

村上幸雄 ;

岩﨑祥子 .

日本专利 :CN118111923A ,2024-05-31

[10]

用于对试样进行光谱分析的光谱仪 [P].

米夏埃尔·巴尔特 ;

拉尔夫-皮特·京特 ;

卡斯滕·林迪希 ;

京特·鲁道夫 ;

塞巴斯蒂安·坦纳特 ;

斯特芬·瓦格纳 .

德国专利 :CN120344837A ,2025-07-18

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