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关键尺寸测量系统和使用其测量关键尺寸的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811117478.7
申请日
:
2018-09-20
公开(公告)号
:
CN109540050B
公开(公告)日
:
2019-03-29
发明(设计)人
:
朴爰柱
李亨周
崔硕桓
南东锡
韩允泽
申请人
:
申请人地址
:
韩国京畿道
IPC主分类号
:
G01B1500
IPC分类号
:
H01L2166
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
邵亚丽
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-24
授权
授权
2019-03-29
公开
公开
2020-09-01
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 15/00 申请日:20180920
共 50 条
[1]
关键尺寸测量方法和系统
[P].
刘明悬
论文数:
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0
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刘明悬
;
郭总杰
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郭总杰
;
刘正
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刘正
;
张治超
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张治超
;
张小祥
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张小祥
;
陈曦
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陈曦
.
中国专利
:CN104655019B
,2015-05-27
[2]
关键尺寸测量标记
[P].
邢滨
论文数:
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邢滨
;
张士健
论文数:
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张士健
.
中国专利
:CN204391103U
,2015-06-10
[3]
尺寸测量装置、尺寸测量方法、尺寸测量系统和程序
[P].
山本治美
论文数:
0
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山本治美
;
直原肇
论文数:
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0
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直原肇
.
中国专利
:CN105593637B
,2016-05-18
[4]
一种光学关键尺寸测量系统及其方法
[P].
陈慧萍
论文数:
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陈慧萍
;
张振生
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张振生
;
施耀明
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施耀明
;
徐益平
论文数:
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0
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徐益平
.
中国专利
:CN107843190A
,2018-03-27
[5]
冰箱箱体关键尺寸自动测量系统
[P].
苗振海
论文数:
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苗振海
.
中国专利
:CN206905701U
,2018-01-19
[6]
尺寸测量装置、尺寸测量方法以及尺寸测量系统
[P].
奥山裕
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
奥山裕
;
大森健史
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
大森健史
.
日本专利
:CN120021423A
,2025-05-20
[7]
关键尺寸测量设备的光源亮度调整系统和方法
[P].
徐德智
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徐德智
;
陈程
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0
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陈程
;
王雷
论文数:
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王雷
.
中国专利
:CN104658942A
,2015-05-27
[8]
基于小角X射线散射技术的关键尺寸测量系统及测量方法
[P].
杨春明
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0
杨春明
;
周平
论文数:
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周平
;
边风刚
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0
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0
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边风刚
.
中国专利
:CN113624168A
,2021-11-09
[9]
尺寸测量装置及尺寸测量系统
[P].
李扬虎
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李扬虎
;
连登伟
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连登伟
;
赵家声
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0
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赵家声
.
中国专利
:CN218270601U
,2023-01-10
[10]
关键尺寸测试结构及其测量方法
[P].
闫彬斌
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0
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机构:
北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
闫彬斌
;
姜淼
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机构:
北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
姜淼
;
李亮
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机构:
北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
李亮
;
师江柳
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机构:
北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
师江柳
;
梁迪
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0
机构:
北京超弦存储器研究院
北京超弦存储器研究院
梁迪
.
中国专利
:CN119170600A
,2024-12-20
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