一种可调整半导体芯片测试探针台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121853047.4

申请日：

2021-08-10

公开(公告)号：

CN216117736U

公开(公告)日：

2022-03-22

发明(设计)人：

陆鹏王硕秋卞杰锋

申请人：

申请人地址：

224000 江苏省盐城市太湖路99号3幢1层

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

代理机构：

苏州汇智联科知识产权代理有限公司 32535

代理人：

王美红

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体芯片测试探针台 [P].

李越 .

中国专利 :CN212905002U ,2021-04-06

[2]

一种半导体芯片测试探针台 [P].

高新华 .

中国专利 :CN203909100U ,2014-10-29

[3]

一种半导体芯片测试探针 [P].

鹿时领 .

中国专利 :CN221804104U ,2024-10-01

[4]

半导体芯片手动测试探针台 [P].

李艳霞 ;

李臣友 ;

于国辉 .

中国专利 :CN202183362U ,2012-04-04

[5]

一种半导体芯片测试探针 [P].

谢江林 .

中国专利 :CN221686463U ,2024-09-10

[6]

半导体器件测试探针台 [P].

杨刚 ;

魏亮 ;

赵勇 .

中国专利 :CN114636844B ,2025-08-01

[7]

半导体器件测试探针台 [P].

杨刚 ;

魏亮 ;

赵勇 .

中国专利 :CN114636844A ,2022-06-17

[8]

一种层叠半导体芯片的测试探针 [P].

周家春 ;

吉迎冬 ;

施元军 .

中国专利 :CN201773122U ,2011-03-23

[9]

一种层叠半导体芯片的测试探针 [P].

周家春 ;

吉迎冬 ;

施元军 .

中国专利 :CN101943710A ,2011-01-12

[10]

一种半导体芯片测试探针生产用打点机 [P].

刘军文 .

中国专利 :CN223206228U ,2025-08-08

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