半导体芯片手动测试探针台

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201120309036.X
申请日
2011-08-24
公开(公告)号
CN202183362U
公开(公告)日
2012-04-04
发明(设计)人
李艳霞 李臣友 于国辉
申请人
申请人地址
066000 河北省秦皇岛市海港区河北大街中段165号
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
代理机构
秦皇岛市维信专利事务所 13102
代理人
戴辉
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体芯片测试探针台 [P]. 
高新华 .
中国专利 :CN203909100U ,2014-10-29
[2]
微型手动半导体测试探针台 [P]. 
刘世文 .
中国专利 :CN307300677S ,2022-04-29
[3]
半导体芯片测试手动探针台 [P]. 
方丹 ;
方俊国 .
中国专利 :CN203616356U ,2014-05-28
[4]
半导体芯片测试手动探针台 [P]. 
方丹 ;
方俊国 .
中国专利 :CN104698230A ,2015-06-10
[5]
高精度手动半导体测试探针台 [P]. 
刘世文 .
中国专利 :CN307286653S ,2022-04-22
[6]
腔体式手动半导体测试探针台 [P]. 
刘世文 .
中国专利 :CN307276856S ,2022-04-19
[7]
精密隔震手动半导体测试探针台 [P]. 
刘世文 .
中国专利 :CN307276857S ,2022-04-19
[8]
一种半导体芯片测试探针台 [P]. 
李越 .
中国专利 :CN212905002U ,2021-04-06
[9]
一种半导体芯片测试手动探针台 [P]. 
杨更华 .
中国专利 :CN207096285U ,2018-03-13
[10]
一种半导体芯片测试探针 [P]. 
谢江林 .
中国专利 :CN221686463U ,2024-09-10