一种半导体芯片测试手动探针台

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201721026941.8
申请日
2017-08-16
公开(公告)号
CN207096285U
公开(公告)日
2018-03-13
发明(设计)人
杨更华
申请人
申请人地址
300000 天津市滨海新区华苑产业区工华道壹号D座2门1101、1102、1103、1104、1105(入驻天津清联网络孵化器有限公司)
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
半导体芯片测试手动探针台 [P]. 
方丹 ;
方俊国 .
中国专利 :CN104698230A ,2015-06-10
[2]
半导体芯片测试手动探针台 [P]. 
方丹 ;
方俊国 .
中国专利 :CN203616356U ,2014-05-28
[3]
半导体芯片手动测试探针台 [P]. 
李艳霞 ;
李臣友 ;
于国辉 .
中国专利 :CN202183362U ,2012-04-04
[4]
一种半导体芯片测试用的自动探针台 [P]. 
蒋次为 .
中国专利 :CN210604722U ,2020-05-22
[5]
微型手动半导体测试探针台 [P]. 
刘世文 .
中国专利 :CN307300677S ,2022-04-29
[6]
高精度手动半导体测试探针台 [P]. 
刘世文 .
中国专利 :CN307286653S ,2022-04-22
[7]
腔体式手动半导体测试探针台 [P]. 
刘世文 .
中国专利 :CN307276856S ,2022-04-19
[8]
一种半导体芯片测试探针台 [P]. 
李越 .
中国专利 :CN212905002U ,2021-04-06
[9]
一种半导体芯片测试探针台 [P]. 
高新华 .
中国专利 :CN203909100U ,2014-10-29
[10]
精密隔震手动半导体测试探针台 [P]. 
刘世文 .
中国专利 :CN307276857S ,2022-04-19