学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种半导体芯片测试手动探针台
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201721026941.8
申请日
:
2017-08-16
公开(公告)号
:
CN207096285U
公开(公告)日
:
2018-03-13
发明(设计)人
:
杨更华
申请人
:
申请人地址
:
300000 天津市滨海新区华苑产业区工华道壹号D座2门1101、1102、1103、1104、1105(入驻天津清联网络孵化器有限公司)
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-03-13
授权
授权
2019-08-02
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20170816 授权公告日:20180313 终止日期:20180816
共 50 条
[1]
半导体芯片测试手动探针台
[P].
方丹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方丹
;
方俊国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方俊国
.
中国专利
:CN104698230A
,2015-06-10
[2]
半导体芯片测试手动探针台
[P].
方丹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方丹
;
方俊国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方俊国
.
中国专利
:CN203616356U
,2014-05-28
[3]
半导体芯片手动测试探针台
[P].
李艳霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李艳霞
;
李臣友
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李臣友
;
于国辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于国辉
.
中国专利
:CN202183362U
,2012-04-04
[4]
一种半导体芯片测试用的自动探针台
[P].
蒋次为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋次为
.
中国专利
:CN210604722U
,2020-05-22
[5]
微型手动半导体测试探针台
[P].
刘世文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世文
.
中国专利
:CN307300677S
,2022-04-29
[6]
高精度手动半导体测试探针台
[P].
刘世文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世文
.
中国专利
:CN307286653S
,2022-04-22
[7]
腔体式手动半导体测试探针台
[P].
刘世文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世文
.
中国专利
:CN307276856S
,2022-04-19
[8]
一种半导体芯片测试探针台
[P].
李越
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李越
.
中国专利
:CN212905002U
,2021-04-06
[9]
一种半导体芯片测试探针台
[P].
高新华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高新华
.
中国专利
:CN203909100U
,2014-10-29
[10]
精密隔震手动半导体测试探针台
[P].
刘世文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世文
.
中国专利
:CN307276857S
,2022-04-19
←
1
2
3
4
5
→