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高精度手动半导体测试探针台
被引:0
申请号
:
CN202130879297.4
申请日
:
2021-12-31
公开(公告)号
:
CN307286653S
公开(公告)日
:
2022-04-22
发明(设计)人
:
刘世文
申请人
:
申请人地址
:
518101 广东省深圳市宝安区西乡街道恒丰工业城C1栋301
IPC主分类号
:
1005
IPC分类号
:
代理机构
:
北京维正专利代理有限公司 11508
代理人
:
俞振明
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-22
授权
授权
共 50 条
[1]
微型手动半导体测试探针台
[P].
刘世文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世文
.
中国专利
:CN307300677S
,2022-04-29
[2]
腔体式手动半导体测试探针台
[P].
刘世文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世文
.
中国专利
:CN307276856S
,2022-04-19
[3]
精密隔震手动半导体测试探针台
[P].
刘世文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世文
.
中国专利
:CN307276857S
,2022-04-19
[4]
半导体芯片手动测试探针台
[P].
李艳霞
论文数:
0
引用数:
0
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0
李艳霞
;
李臣友
论文数:
0
引用数:
0
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0
李臣友
;
于国辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于国辉
.
中国专利
:CN202183362U
,2012-04-04
[5]
真空高低温半导体测试探针台
[P].
刘世文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世文
.
中国专利
:CN307233079S
,2022-04-05
[6]
半导体测试探针
[P].
金英杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金英杰
.
中国专利
:CN201348641Y
,2009-11-18
[7]
半导体开尔文测试探针
[P].
金英杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金英杰
.
中国专利
:CN102466740A
,2012-05-23
[8]
半导体测试探针
[P].
叶云孟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶云孟
.
中国专利
:CN203178322U
,2013-09-04
[9]
一种半导体晶圆测试探针台
[P].
章福旻
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
合肥精智达集成电路技术有限公司
合肥精智达集成电路技术有限公司
章福旻
.
中国专利
:CN221446167U
,2024-07-30
[10]
半导体芯片测试手动探针台
[P].
方丹
论文数:
0
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0
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0
方丹
;
方俊国
论文数:
0
引用数:
0
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0
方俊国
.
中国专利
:CN104698230A
,2015-06-10
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