半导体芯片测试手动探针台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320796576.4

申请日：

2013-12-06

公开(公告)号：

CN203616356U

公开(公告)日：

2014-05-28

发明(设计)人：

方丹方俊国

申请人：

申请人地址：

225001 江苏省扬州市邗江区梅岭东路梅岭佳苑8-302室

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G05D312

代理机构：

扬州苏中专利事务所(普通合伙) 32222

代理人：

许必元

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-05-28	授权	授权
2018-01-26	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/067 申请日:20131206 授权公告日:20140528 终止日期:20161206

共 50 条

[1]

半导体芯片测试手动探针台 [P].

方丹 ;

方俊国 .

中国专利 :CN104698230A ,2015-06-10

[2]

一种半导体芯片测试手动探针台 [P].

杨更华 .

中国专利 :CN207096285U ,2018-03-13

[3]

半导体芯片手动测试探针台 [P].

李艳霞 ;

李臣友 ;

于国辉 .

中国专利 :CN202183362U ,2012-04-04

[4]

手动探针台 [P].

方丹 ;

方俊国 .

中国专利 :CN203616355U ,2014-05-28

[5]

手动探针台 [P].

方丹 ;

方俊国 .

中国专利 :CN104698229A ,2015-06-10

[6]

微型手动半导体测试探针台 [P].

刘世文 .

中国专利 :CN307300677S ,2022-04-29

[7]

高精度手动半导体测试探针台 [P].

刘世文 .

中国专利 :CN307286653S ,2022-04-22

[8]

腔体式手动半导体测试探针台 [P].

刘世文 .

中国专利 :CN307276856S ,2022-04-19

[9]

精密隔震手动半导体测试探针台 [P].

刘世文 .

中国专利 :CN307276857S ,2022-04-19

[10]

一种半导体芯片测试用的自动探针台 [P].

蒋次为 .

中国专利 :CN210604722U ,2020-05-22

← 1 2 3 4 5 →