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应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201811451273.2
申请日：
2018-11-30
公开(公告)号：
CN109582579B
公开(公告)日：
2019-04-05
发明(设计)人：
林淙源 李佩 杨闯
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
代理机构：
北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138
代理人：
滕一斌
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2019-04-05 公开 公开
2022-04-15 授权 授权
2019-04-30 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20181130
共 50 条
[1]
应用程序测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
李华西 ;
李明亮 .
中国专利 :CN113986724A ,2022-01-28
[2]
应用程序测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
刘伟杰 .
中国专利 :CN109614311A ,2019-04-12
[3]
应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
江佳宇 ;
蒋剑琴 ;
赵东 ;
黄小刚 .
中国专利 :CN114064450A ,2022-02-18
[4]
应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张伯玉 ;
杨爽 ;
周硕琦 ;
张薇 ;
李毅 .
中国专利 :CN119782139A ,2025-04-08
[5]
应用程序的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张鹏 .
中国专利 :CN115328770A ,2022-11-11
[6]
应用程序测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
刘梅 ;
郭小溪 .
中国专利 :CN110032507B ,2019-07-19
[7]
应用程序测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
丁光磊 ;
张钊 ;
蔡天勤 .
中国专利 :CN112699046A ,2021-04-23
[8]
应用程序测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
丁光磊 ;
张钊 ;
蔡天勤 .
中国专利 :CN112699046B ,2024-03-29
[9]
应用程序测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
陈宇轩 .
中国专利 :CN113568837A ,2021-10-29
[10]
应用程序测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
方东旭 ;
周徐 .
中国专利 :CN115481006A ,2022-12-16
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