应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411347061.5

申请日：

2024-09-25

公开(公告)号：

CN119782139A

公开(公告)日：

2025-04-08

发明(设计)人：

张伯玉杨爽周硕琦张薇李毅

申请人：

北京罗克维尔斯科技有限公司

申请人地址：

101300 北京市顺义区高丽营镇恒兴路4号院1幢103室（科技创新功能区）

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

G06F11/3698 G06N5/022

代理机构：

北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319

代理人：

唐梨纯

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-08	公开	公开
2025-04-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20240925

共 50 条

[1]

应用程序测试方法、电子设备及存储介质 [P].

李华西 ;

李明亮 .

中国专利 :CN113986724A ,2022-01-28

[2]

应用程序测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

刘伟杰 .

中国专利 :CN109614311A ,2019-04-12

[3]

应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

江佳宇 ;

蒋剑琴 ;

赵东 ;

黄小刚 .

中国专利 :CN114064450A ,2022-02-18

[4]

应用程序测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林淙源 ;

李佩 ;

杨闯 .

中国专利 :CN109582579B ,2019-04-05

[5]

应用程序测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

刘梅 ;

郭小溪 .

中国专利 :CN110032507B ,2019-07-19

[6]

应用程序测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

丁光磊 ;

张钊 ;

蔡天勤 .

中国专利 :CN112699046A ,2021-04-23

[7]

应用程序的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

金凌云 .

中国专利 :CN110781091A ,2020-02-11

[8]

应用程序测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

丁光磊 ;

张钊 ;

蔡天勤 .

中国专利 :CN112699046B ,2024-03-29

[9]

应用程序测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陈宇轩 .

中国专利 :CN113568837A ,2021-10-29

[10]

应用程序测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

方东旭 ;

周徐 .

中国专利 :CN115481006A ,2022-12-16

← 1 2 3 4 5 →