电路板检测方法、系统、计算机设备和存储介质

被引：0

申请号：

CN202110844608.2

申请日：

2021-07-26

公开(公告)号：

CN115700742A

公开(公告)日：

2023-02-07

发明(设计)人：

王世超

申请人：

申请人地址：

510530 广东省广州市黄埔区云埔四路6号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T713

代理机构：

深圳市明日今典知识产权代理事务所(普通合伙) 44343

代理人：

王杰辉;曹勇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-07	公开	公开

共 50 条

[1]

电路板检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

赵政 .

中国专利 :CN108717697B ,2018-10-30

[2]

电路板检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

钱增 ;

毕建华 ;

罗春风 ;

董家宽 ;

孙长安 .

中国专利 :CN118351059A ,2024-07-16

[3]

电路板质量检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

陈泽坚 ;

蒋攀攀 ;

陈航 ;

洪瑛旭 ;

杨颖 ;

周亮 .

中国专利 :CN114579375A ,2022-06-03

[4]

电路板故障检测方法和装置、计算机设备和存储介质 [P].

欧阳云轩 ;

王星 ;

张恂 ;

翟学涛 ;

杨朝辉 ;

高云峰 .

中国专利 :CN108169664B ,2018-06-15

[5]

电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质 [P].

吴长雷 ;

李勇 ;

丁俊超 ;

浦黎 ;

纪庆泉 ;

董世儒 .

中国专利 :CN112150433A ,2020-12-29

[6]

电路板锡膏缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李宁 ;

庞振江 ;

占兆武 ;

蔡义 ;

张荣 ;

李魁雨 ;

罗毅夫 .

中国专利 :CN118196044A ,2024-06-14

[7]

电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质 [P].

吴长雷 ;

李勇 ;

丁俊超 ;

浦黎 ;

纪庆泉 ;

董世儒 .

中国专利 :CN112150433B ,2024-05-28

[8]

检测方法、检测电路、计算机设备和存储介质 [P].

徐秀波 ;

应子罡 ;

魏江龙 ;

杨丽丽 ;

刘银栋 .

中国专利 :CN114172539B ,2022-03-11

[9]

电路板缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

李文科 ;

余鹏 ;

任威振 ;

杨朝辉 .

中国专利 :CN118429278A ,2024-08-02

[10]

一种印制电路板检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张杰 ;

朱海峰 ;

朱洁 .

中国专利 :CN112801998B ,2021-05-14

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