电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011001531.4

申请日：

2020-09-22

公开(公告)号：

CN112150433B

公开(公告)日：

2024-05-28

发明(设计)人：

吴长雷李勇丁俊超浦黎纪庆泉董世儒

申请人：

中广核核电运营有限公司中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司

申请人地址：

518048 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/13 G06T7/155 G06T7/90 G06T5/20 G06T5/70

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

纪婷婧

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-28	授权	授权

共 50 条

[1]

电路板晶须物质的检测方法、计算机设备和存储介质 [P].

吴长雷 ;

李勇 ;

丁俊超 ;

浦黎 ;

纪庆泉 ;

董世儒 .

中国专利 :CN112150433A ,2020-12-29

[2]

电路板检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

赵政 .

中国专利 :CN108717697B ,2018-10-30

[3]

电路板检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

钱增 ;

毕建华 ;

罗春风 ;

董家宽 ;

孙长安 .

中国专利 :CN118351059A ,2024-07-16

[4]

电路板检测方法、系统、计算机设备和存储介质 [P].

王世超 .

中国专利 :CN115700742A ,2023-02-07

[5]

电路板质量检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

陈泽坚 ;

蒋攀攀 ;

陈航 ;

洪瑛旭 ;

杨颖 ;

周亮 .

中国专利 :CN114579375A ,2022-06-03

[6]

电路板故障检测方法和装置、计算机设备和存储介质 [P].

欧阳云轩 ;

王星 ;

张恂 ;

翟学涛 ;

杨朝辉 ;

高云峰 .

中国专利 :CN108169664B ,2018-06-15

[7]

电路板锡膏缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李宁 ;

庞振江 ;

占兆武 ;

蔡义 ;

张荣 ;

李魁雨 ;

罗毅夫 .

中国专利 :CN118196044A ,2024-06-14

[8]

电路板检测的计算成像方法、装置、计算机设备及介质 [P].

杜魏 .

中国专利 :CN118115488A ,2024-05-31

[9]

电路板检测方法、电路板检测装置及计算机可读存储介质 [P].

裴飞 .

中国专利 :CN118837359A ,2024-10-25

[10]

检测方法、检测电路、计算机设备和存储介质 [P].

徐秀波 ;

应子罡 ;

魏江龙 ;

杨丽丽 ;

刘银栋 .

中国专利 :CN114172539B ,2022-03-11

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