一种同轴正入射散斑偏折术测量方法和装置

被引：0

申请号：

CN202210306559.1

申请日：

2022-03-25

公开(公告)号：

CN114674244A

公开(公告)日：

2022-06-28

发明(设计)人：

郝群胡摇张玉

申请人：

申请人地址：

100081 北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

G01B1116 G01M1102

代理机构：

北京市中闻律师事务所 11388

代理人：

冯梦洪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20220325
2022-06-28	公开	公开

共 50 条

[1]

一种利用相位测量偏折术的光学透镜波前测量方法 [P].

王维 ;

岳慧敏 ;

覃添 ;

刘永 .

中国专利 :CN111537203A ,2020-08-14

[2]

散斑测量设备和散斑测量方法 [P].

相泽耕太 ;

大久保厚志 ;

胁田能宏 .

中国专利 :CN108882882B ,2018-11-23

[3]

一种基于子区波前校正的单帧散斑偏折测量方法 [P].

戴英姿 ;

牛振岐 ;

魏朝阳 ;

邵建达 ;

万嵩林 ;

闫烁 .

中国专利 :CN120385295A ,2025-07-29

[4]

一种散斑偏折术检测平面元件面形的方法与装置 [P].

李大海 ;

汤海潮 ;

张新伟 ;

鄂可伟 ;

唐蕾 ;

王琼华 .

中国专利 :CN108413893A ,2018-08-17

[5]

一种偏振相位偏折测量方法和装置 [P].

蔡昂 ;

赵娟 ;

万由滕 ;

魏琦 ;

宋展 .

中国专利 :CN113029040B ,2021-06-25

[6]

激光散斑干涉测量方法及装置 [P].

王希军 .

中国专利 :CN1696661A ,2005-11-16

[7]

超声散斑水下稳态振动测量方法和测量装置 [P].

朱鸿茂 ;

胡莉莉 ;

沈磊 ;

褚俊 ;

罗志华 ;

胡鹏 .

中国专利 :CN102721457A ,2012-10-10

[8]

偏振同轴照明激光剪切散斑干涉测量系统及其测量方法 [P].

李杰 ;

巴荣声 ;

周信达 ;

徐兆锐 ;

郑垠波 ;

丁磊 ;

柴立群 ;

许乔 ;

徐宏磊 ;

那进 .

中国专利 :CN114136976B ,2024-04-26

[9]

偏振同轴照明激光剪切散斑干涉测量系统及其测量方法 [P].

李杰 ;

巴荣声 ;

周信达 ;

徐兆锐 ;

郑垠波 ;

丁磊 ;

柴立群 ;

许乔 ;

徐宏磊 ;

那进 .

中国专利 :CN114136976A ,2022-03-04

[10]

一种剪切位移散斑测量方法及装置 [P].

池景春 ;

兰艳平 .

中国专利 :CN103471508B ,2013-12-25

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