测量接触故障的方法和接触故障测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201180010504.6

申请日：

2011-02-22

公开(公告)号：

CN102770775B

公开(公告)日：

2012-11-07

发明(设计)人：

丸山进土切英之福田浩治出町敦

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R3104

IPC分类号：

B60R1602 G01M17007 G01R3302

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

李辉;黄纶伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-12-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101373120236 IPC(主分类):G01R 31/04 专利申请号:2011800105046 申请日:20110222
2015-05-27	授权	授权
2012-11-07	公开	公开

共 50 条

[1]

接触力测量装置和使用接触力测量装置测量接触力的方法 [P].

R·斯托布 ;

A·莱曼 ;

克劳迪奥·卡瓦洛尼 .

中国专利 :CN112129442A ,2020-12-25

[2]

具有测量装置的接触装置和用于测量接触状态的方法 [P].

S.基普 .

中国专利 :CN114089225A ,2022-02-25

[3]

接触力测量装置和接触力测量方法 [P].

藤泽贵雅 ;

庭川诚 ;

渡部勇介 ;

池田充 .

中国专利 :CN102292235A ,2011-12-21

[4]

接触探头、探头插座、电特性测量装置和接触探头的接触方法 [P].

后藤章文 .

中国专利 :CN1573338A ,2005-02-02

[5]

非接触长度测量装置 [P].

闫黎明 ;

潘福中 .

中国专利 :CN107192338A ,2017-09-22

[6]

非接触眼压测量装置 [P].

陈骥 ;

赵晓明 .

中国专利 :CN100581443C ,2008-06-25

[7]

接触式位移测量装置 [P].

赵洪瑞 ;

刘胜利 .

中国专利 :CN206573086U ,2017-10-20

[8]

非接触长度测量装置 [P].

闫黎明 ;

潘福中 .

中国专利 :CN207019625U ,2018-02-16

[9]

非接触高度测量装置 [P].

刘月梅 .

中国专利 :CN222379024U ,2025-01-21

[10]

端面齿接触着色的测量装置和测量方法 [P].

李晓宇 ;

王慧秀 ;

魏荣光 ;

陶海亮 .

中国专利 :CN114235719A ,2022-03-25

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