SOC芯片仿真验证方法、装置、设备和存储介质

被引：0

申请号：

CN202210273489.4

申请日：

2022-03-18

公开(公告)号：

CN114722750A

公开(公告)日：

2022-07-08

发明(设计)人：

刘志哲董胜波赵晨旭苏琪雅

申请人：

申请人地址：

100039 北京市海淀区永定路51号

IPC主分类号：

G06F3033

IPC分类号：

G06F1625 G06F11502

代理机构：

北京华专卓海知识产权代理事务所(普通合伙) 11664

代理人：

张帅杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/33 申请日:20220318
2022-07-08	公开	公开

共 50 条

[1]

一种SoC芯片仿真验证方法、装置、设备及存储介质 [P].

王硕 ;

满宏涛 ;

刘刚 ;

陈贝 .

中国专利 :CN114282465A ,2022-04-05

[2]

一种SoC芯片仿真验证方法、装置、设备及存储介质 [P].

王硕 ;

满宏涛 ;

刘刚 ;

陈贝 .

中国专利 :CN114282465B ,2025-08-26

[3]

SoC芯片的验证方法和SoC芯片验证系统、电子设备 [P].

李远超 ;

蔡权雄 ;

牛昕宇 .

中国专利 :CN118734763A ,2024-10-01

[4]

SOC芯片性能验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

杨斌 ;

袁力 .

中国专利 :CN117610494A ,2024-02-27

[5]

SOC芯片测试方法、装置、设备、存储介质 [P].

农凯政 ;

钟汝军 ;

苑鹏 ;

王安 .

中国专利 :CN118409910A ,2024-07-30

[6]

SOC芯片测试方法、装置、设备、存储介质 [P].

农凯政 ;

钟汝军 ;

苑鹏 ;

王安 .

中国专利 :CN118409910B ,2025-11-18

[7]

芯片验证方法、装置、设备和存储介质 [P].

王聪 ;

牛萍 ;

李钊 ;

谢莹 .

中国专利 :CN114091391B ,2025-10-17

[8]

芯片验证方法、装置、设备和存储介质 [P].

王聪 ;

牛萍 ;

李钊 ;

谢莹 .

中国专利 :CN114091391A ,2022-02-25

[9]

芯片仿真验证加速方法、装置、设备以及存储介质 [P].

侯坤 ;

秦刚 .

中国专利 :CN120832859A ,2025-10-24

[10]

芯片仿真验证方法、系统、设备及存储介质 [P].

谭黎敏 ;

李明慧 ;

宋捷 .

中国专利 :CN113032195A ,2021-06-25

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