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芯片验证方法、装置、设备和存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111420986.4
申请日：
2021-11-26
公开(公告)号：
CN114091391B
公开(公告)日：
2025-10-17
发明(设计)人：
王聪 牛萍 李钊 谢莹
申请人：
海光信息技术股份有限公司
申请人地址：
300450 天津市滨海新区天津华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
IPC主分类号：
G06F30/331
IPC分类号：
G06F15/78 G06F115/02
代理机构：
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人：
徐叶馨
法律状态：
授权
国省代码：
天津市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-17 授权 授权
共 50 条
[1]
芯片验证方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
王聪 ;
牛萍 ;
李钊 ;
谢莹 .
中国专利 :CN114091391A ,2022-02-25
[2]
芯片验证系统、方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
张良 ;
尚铮 ;
张家金 .
中国专利 :CN113342583B ,2021-09-03
[3]
芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
谢维 .
中国专利 :CN115422864A ,2022-12-02
[4]
芯片验证方法、平台、装置、设备和存储介质 [P]. 
武甲东 .
中国专利 :CN112926285A ,2021-06-08
[5]
芯片验证方法、装置、设备、存储介质 [P]. 
杨晶晶 ;
谭帆 ;
魏炽频 .
中国专利 :CN112596966A ,2021-04-02
[6]
芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN121031489A ,2025-11-28
[7]
芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120893362A ,2025-11-04
[8]
SOC芯片仿真验证方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
刘志哲 ;
董胜波 ;
赵晨旭 ;
苏琪雅 .
中国专利 :CN114722750A ,2022-07-08
[9]
芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
向秋东 ;
郭文平 .
中国专利 :CN118627435A ,2024-09-10
[10]
芯片验证方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王磊 .
中国专利 :CN118780221A ,2024-10-15
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