一种集成电路测试连接装置

被引：0

申请号：

CN202222096431.5

申请日：

2022-08-10

公开(公告)号：

CN218445587U

公开(公告)日：

2023-02-03

发明(设计)人：

彭佳颖

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区清水河街道清水河社区清水河一路112号智丰大厦1座1501

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R102 G01R3128

代理机构：

北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491

代理人：

张国栋

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-03	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路测试连接装置 [P].

杨定一 .

中国专利 :CN221707530U ,2024-09-13

[2]

集成电路测试连接装置 [P].

杜润飞 ;

关赛新 ;

蔡荣军 .

中国专利 :CN203117228U ,2013-08-07

[3]

一种集成电路测试连接装置 [P].

马艳 ;

王晓莹 ;

田梅安 .

中国专利 :CN214122395U ,2021-09-03

[4]

一种集成电路测试连接装置 [P].

吕国伟 .

中国专利 :CN209486147U ,2019-10-11

[5]

集成电路测试连接装置 [P].

王爱国 ;

赵凡奎 ;

李忠仁 ;

徐友生 .

中国专利 :CN207601255U ,2018-07-10

[6]

一种集成电路测试连接装置 [P].

朱培轩 .

中国专利 :CN209373047U ,2019-09-10

[7]

一种集成电路测试转接转换连接装置 [P].

刘若智 ;

胡志强 .

中国专利 :CN206684188U ,2017-11-28

[8]

一种集成电路测试连接装置 [P].

石华平 ;

张海民 ;

陈德林 ;

陈婷婷 ;

蒋云亮 .

中国专利 :CN116482517B ,2024-08-16

[9]

一种集成电路测试连接装置 [P].

刘本强 ;

陈翔 ;

吴涛 .

中国专利 :CN115598508A ,2023-01-13

[10]

一种集成电路测试连接装置 [P].

廖慧霞 ;

莫嘉 .

中国专利 :CN117929801A ,2024-04-26

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