一种集成电路测试连接装置

被引：0

申请号：

CN202211343083.5

申请日：

2022-10-31

公开(公告)号：

CN115598508A

公开(公告)日：

2023-01-13

发明(设计)人：

刘本强陈翔吴涛

申请人：

申请人地址：

277000 山东省枣庄市高新区兴城街道复元三路润东产业园4号楼2层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

山东菩勤专利代理有限公司 37343

代理人：

李楠

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-13	公开	公开
2023-02-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20221031

共 50 条

[1]

一种集成电路测试连接装置 [P].

廖慧霞 ;

莫嘉 .

中国专利 :CN117929801A ,2024-04-26

[2]

集成电路测试连接装置 [P].

王爱国 ;

赵凡奎 ;

李忠仁 ;

徐友生 .

中国专利 :CN207601255U ,2018-07-10

[3]

集成电路测试连接装置 [P].

杜润飞 ;

关赛新 ;

蔡荣军 .

中国专利 :CN203117228U ,2013-08-07

[4]

一种集成电路测试连接装置 [P].

马艳 ;

王晓莹 ;

田梅安 .

中国专利 :CN214122395U ,2021-09-03

[5]

一种集成电路测试连接装置 [P].

朱培轩 .

中国专利 :CN209373047U ,2019-09-10

[6]

一种集成电路测试连接装置 [P].

石华平 ;

张海民 ;

陈德林 ;

陈婷婷 ;

蒋云亮 .

中国专利 :CN116482517B ,2024-08-16

[7]

一种集成电路测试连接装置 [P].

彭佳颖 .

中国专利 :CN218445587U ,2023-02-03

[8]

一种集成电路测试连接装置 [P].

吕国伟 .

中国专利 :CN209486147U ,2019-10-11

[9]

一种集成电路测试连接装置 [P].

杨定一 .

中国专利 :CN221707530U ,2024-09-13

[10]

集成电路测试连接装置和方法 [P].

杜润飞 ;

关赛新 ;

蔡荣军 .

中国专利 :CN103149388A ,2013-06-12

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