一种TDICMOS探测器的筛选测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811535502.9

申请日：

2018-12-14

公开(公告)号：

CN109660790A

公开(公告)日：

2019-04-19

发明(设计)人：

余达刘金国孔德柱陈佳豫马庆军王玉龙王冶

申请人：

申请人地址：

130033 吉林省长春市东南湖大路3888号

IPC主分类号：

H04N1700

IPC分类号：

代理机构：

长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214

代理人：

朱红玲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-04-19	公开	公开
2019-05-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 17/00 申请日:20181214
2021-06-15	授权	授权

共 50 条

[1]

TDICMOS探测器的暗信号扣除方法 [P].

余达 ;

吕恒毅 ;

刘海龙 ;

孙雪晨 ;

刘春香 ;

邵帅 ;

赵莹 .

中国专利 :CN114143482A ,2022-03-04

[2]

一种TDICMOS探测器的非均匀校正方法 [P].

余达 ;

刘金国 ;

周怀得 ;

姜肖楠 ;

杨亮 ;

黄斌 ;

李嘉 .

中国专利 :CN111741243A ,2020-10-02

[3]

TDICMOS探测器成像中的均匀电荷转移实现方法 [P].

余达 ;

韩诚山 ;

司国良 ;

刘春香 ;

邵帅 ;

孙铭 ;

张贵祥 .

中国专利 :CN114339092B ,2024-02-02

[4]

平板探测器测试系统和平板探测器测试方法 [P].

刘洁清 ;

栾干 .

中国专利 :CN107432748A ,2017-12-05

[5]

探测器装置和探测器测试方法 [P].

本间彻 .

中国专利 :CN100407390C ,2004-09-01

[6]

金属探测器的测试夹具和金属探测器的测试方法 [P].

程健博 ;

张永久 ;

冷友斌 .

中国专利 :CN114624783B ,2025-12-09

[7]

一种红外探测器的暗电流测试方法 [P].

范芸 ;

马金鹏 .

中国专利 :CN119125823A ,2024-12-13

[8]

金属探测器的测试夹具和金属探测器的测试方法 [P].

程健博 ;

张永久 ;

冷友斌 .

中国专利 :CN114624783A ,2022-06-14

[9]

一种红外探测器测试系统 [P].

戴亚明 ;

郭志华 ;

周迎春 ;

陈小宁 .

中国专利 :CN202149810U ,2012-02-22

[10]

一种探测器性能测试系统 [P].

郑斌 ;

李日金 .

中国专利 :CN117309025B ,2024-05-28

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