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一种芯片的漏电流测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201820764742.5
申请日：
2018-05-22
公开(公告)号：
CN208255338U
公开(公告)日：
2018-12-18
发明(设计)人：
王淑琴
申请人：
申请人地址：
313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区赛格数码城2幢920室
IPC主分类号：
G01R3102
IPC分类号：
G01R3101
代理机构：
北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246
代理人：
郭晓凤
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2018-12-18 | 授权 | 授权 |
| 2019-09-27 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/02 登记生效日:20190910 变更事项:专利权人 变更前权利人:湖州靖源信息技术有限公司 变更后权利人:深圳摩通电气有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区赛格数码城2幢920室 变更后权利人:518000 广东省深圳市福田区沙头街道车公庙工业区泰然211栋工业厂房第6层603 |