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一种用于测试样品摔落性能的治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020672279.9
申请日
:
2020-04-28
公开(公告)号
:
CN212082765U
公开(公告)日
:
2020-12-04
发明(设计)人
:
朱琳
申请人
:
申请人地址
:
362000 福建省泉州市南安市溪美湖东巷39号
IPC主分类号
:
G01M708
IPC分类号
:
G01N3303
G01N302
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-12-04
授权
授权
2022-04-08
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 7/08 申请日:20200428 授权公告日:20201204 终止日期:20210428
共 50 条
[31]
一种用于测试治具的找点机
[P].
曾浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州工业园区泰亚达精密仪器有限公司
苏州工业园区泰亚达精密仪器有限公司
曾浩
.
中国专利
:CN220324810U
,2024-01-09
[32]
一种测试样条快速切割治具
[P].
蒋建国
论文数:
0
引用数:
0
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0
蒋建国
;
刘晓鹏
论文数:
0
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0
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0
刘晓鹏
;
周姿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周姿
.
中国专利
:CN211333298U
,2020-08-25
[33]
用于测试样品的分析系统
[P].
A·尼迈耶
论文数:
0
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0
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0
A·尼迈耶
;
H·施莫尔克
论文数:
0
引用数:
0
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0
H·施莫尔克
.
中国专利
:CN109789414A
,2019-05-21
[34]
用于NDT测试样品的方法
[P].
T·切希拉
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
博势股份有限公司
博势股份有限公司
T·切希拉
;
C·T·卡普卡
论文数:
0
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0
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机构:
博势股份有限公司
博势股份有限公司
C·T·卡普卡
;
R·艾萨吉科赞
论文数:
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引用数:
0
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机构:
博势股份有限公司
博势股份有限公司
R·艾萨吉科赞
;
A·卡巴莱罗
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
博势股份有限公司
博势股份有限公司
A·卡巴莱罗
.
:CN117425826A
,2024-01-19
[35]
一种测试样品及其测试装置
[P].
姜亮
论文数:
0
引用数:
0
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0
姜亮
;
张文丛
论文数:
0
引用数:
0
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0
张文丛
.
中国专利
:CN207318244U
,2018-05-04
[36]
一种测试样品的简易检测装置
[P].
李伟
论文数:
0
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0
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0
李伟
;
黄睿
论文数:
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0
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黄睿
;
霍晓楠
论文数:
0
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0
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0
霍晓楠
.
中国专利
:CN206146341U
,2017-05-03
[37]
一种测试治具
[P].
陈昆昆
论文数:
0
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陈昆昆
;
刘洪明
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刘洪明
;
庄信弘
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0
庄信弘
.
中国专利
:CN211262659U
,2020-08-14
[38]
一种标准件样品的测试治具
[P].
范真
论文数:
0
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0
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0
范真
.
中国专利
:CN211955277U
,2020-11-17
[39]
一种摔落测试机
[P].
文泽球
论文数:
0
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0
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0
文泽球
.
中国专利
:CN203275059U
,2013-11-06
[40]
一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置
[P].
杨振
论文数:
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杨振
;
杨剑
论文数:
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引用数:
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0
杨剑
.
中国专利
:CN203772770U
,2014-08-13
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