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顾及运动特性的极化SAR地表形变测量方法、装置及设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010341726.7
申请日
:
2020-04-27
公开(公告)号
:
CN111553263A
公开(公告)日
:
2020-08-18
发明(设计)人
:
汪长城
胡灿程
沈鹏
申请人
:
申请人地址
:
410083 湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号
IPC主分类号
:
G06K900
IPC分类号
:
G06K962
G06T733
代理机构
:
长沙市融智专利事务所(普通合伙) 43114
代理人
:
龚燕妮
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-09-11
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/00 申请日:20200427
2020-08-18
公开
公开
共 50 条
[1]
基于双频多极化差分干涉的地表形变测量方法及设备
[P].
刘爱芳
论文数:
0
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刘爱芳
;
夏犇
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夏犇
;
葛仕奇
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葛仕奇
;
朱力
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朱力
;
徐辉
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徐辉
.
中国专利
:CN115453520B
,2022-12-09
[2]
基于异星异成像模式SAR数据的地表形变测量方法及系统
[P].
陈筠力
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
陈筠力
;
刘艳阳
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
刘艳阳
;
葛大庆
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
葛大庆
;
唐新明
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
唐新明
;
魏春
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
魏春
;
李涛
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
李涛
;
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机构:
路瑞峰
;
温俊健
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
温俊健
.
中国专利
:CN120970553A
,2025-11-18
[3]
双星双频点差分干涉SAR三维地表形变测量方法及系统
[P].
刘艳阳
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上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
刘艳阳
;
陈筠力
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
陈筠力
;
陆晴
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
陆晴
;
孙丞琳
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
孙丞琳
;
温俊健
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机构:
上海卫星工程研究所
上海卫星工程研究所
温俊健
;
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机构:
路瑞峰
.
中国专利
:CN121007514A
,2025-11-25
[4]
基于极化自相关矩阵的SAR极化测量方法及系统
[P].
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机构:
张晰
;
刘根旺
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机构:
自然资源部第一海洋研究所
自然资源部第一海洋研究所
刘根旺
;
曹成会
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机构:
自然资源部第一海洋研究所
自然资源部第一海洋研究所
曹成会
.
中国专利
:CN118444313B
,2025-04-04
[5]
基于极化自相关矩阵的SAR极化测量方法及系统
[P].
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机构:
张晰
;
刘根旺
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机构:
自然资源部第一海洋研究所
自然资源部第一海洋研究所
刘根旺
;
曹成会
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机构:
自然资源部第一海洋研究所
自然资源部第一海洋研究所
曹成会
.
中国专利
:CN118444313A
,2024-08-06
[6]
顾及极化统计特性的非监督域自适应网络极化SAR地物分类方法及设备
[P].
汪长城
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汪长城
;
李倩
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李倩
;
沈鹏
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沈鹏
;
高晗
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高晗
.
中国专利
:CN113269024A
,2021-08-17
[7]
时间序列干涉SAR的形变量测量方法及SAR系统
[P].
于建游
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于建游
;
马占海
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马占海
;
陈彦欣
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陈彦欣
;
杜宪
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杜宪
;
李长丽
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李长丽
;
任丽超
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任丽超
.
中国专利
:CN113340191B
,2021-09-03
[8]
光学特性测量方法、装置及设备
[P].
欧兴涛
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0
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机构:
西安诺瓦星云科技股份有限公司
西安诺瓦星云科技股份有限公司
欧兴涛
;
杨城
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机构:
西安诺瓦星云科技股份有限公司
西安诺瓦星云科技股份有限公司
杨城
;
汤深富
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机构:
西安诺瓦星云科技股份有限公司
西安诺瓦星云科技股份有限公司
汤深富
;
白绳武
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机构:
西安诺瓦星云科技股份有限公司
西安诺瓦星云科技股份有限公司
白绳武
.
中国专利
:CN118706404A
,2024-09-27
[9]
基于多波段极化干涉SAR的植被高度测量方法及装置
[P].
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机构:
李真芳
;
熊颖
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机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
熊颖
;
唐繁乙
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机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
唐繁乙
;
刘爱芳
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机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
刘爱芳
;
论文数:
引用数:
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机构:
黄龙
;
赵浩浩
论文数:
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机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
赵浩浩
.
中国专利
:CN117826152A
,2024-04-05
[10]
镜片特性测量装置及镜片特性测量方法
[P].
杂贺诚
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杂贺诚
.
中国专利
:CN109556834B
,2019-04-02
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