利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280055381.2

申请日：

2012-10-30

公开(公告)号：

CN103930768A

公开(公告)日：

2014-07-16

发明(设计)人：

山口光城田边哲也

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-05-18	授权	授权
2014-07-16	公开	公开
2020-10-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20121030 授权公告日:20160518 终止日期:20191030
2014-08-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101584393727 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2012800553812 申请日:20121030

共 50 条

[1]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN103477210B ,2013-12-25

[2]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

田边哲也 ;

山口光城 .

中国专利 :CN103733049B ,2014-04-16

[3]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

叶梨拓哉 ;

山口光城 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103460026A ,2013-12-18

[4]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

中田秀孝 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103765197A ,2014-04-30

[5]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

田边哲也 ;

近藤圣二 .

中国专利 :CN105593667A ,2016-05-18

[6]

利用单个发光粒子检测的光分析装置及光分析方法 [P].

田边哲也 ;

山口光城 .

中国专利 :CN103765196B ,2014-04-30

[7]

观测单个发光粒子的偏振特性的光分析装置、光分析方法以及用于该方法的光分析用计算机程序 [P].

山口光城 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103210302A ,2013-07-17

[8]

利用单个粒子检测的光分析装置、光分析方法 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN104115001B ,2014-10-22

[9]

利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序 [P].

叶梨拓哉 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103765195B ,2014-04-30

[10]

利用单个发光粒子检测的光分析方法 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN103119421B ,2013-05-22

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