利用单个发光粒子检测的光分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201180045547.8

申请日：

2011-09-16

公开(公告)号：

CN103119421B

公开(公告)日：

2013-05-22

发明(设计)人：

田边哲也

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-06-19	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101475923709 IPC(主分类):G01N 21/64 专利申请号:2011800455478 申请日:20110916
2015-04-08	授权	授权
2013-05-22	公开	公开

共 50 条

[1]

利用单个发光粒子检测的光分析装置及光分析方法 [P].

田边哲也 ;

山口光城 .

中国专利 :CN103765196B ,2014-04-30

[2]

利用单个粒子检测的光分析装置、光分析方法 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN104115001B ,2014-10-22

[3]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

山口光城 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103930768A ,2014-07-16

[4]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN103477210B ,2013-12-25

[5]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

叶梨拓哉 ;

山口光城 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103460026A ,2013-12-18

[6]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

中田秀孝 ;

田边哲也 .

中国专利 :CN103765197A ,2014-04-30

[7]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

田边哲也 ;

近藤圣二 .

中国专利 :CN105593667A ,2016-05-18

[8]

利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序 [P].

田边哲也 ;

山口光城 .

中国专利 :CN103733049B ,2014-04-16

[9]

利用来自单个发光粒子的光的检测的光分析方法和光分析装置 [P].

田边哲也 .

中国专利 :CN103328955B ,2013-09-25

[10]

利用单个发光粒子检测的粒子的扩散特性值的测量方法 [P].

田边哲也 ;

山口光城 .

中国专利 :CN103154708B ,2013-06-12

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