一种测试方法、测试装置、存储介质及电子设备

被引：0

申请号：

CN202210729835.5

申请日：

2022-06-24

公开(公告)号：

CN115130097A

公开(公告)日：

2022-09-30

发明(设计)人：

张鹏武建

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地东路1号院3号楼四层

IPC主分类号：

G06F2156

IPC分类号：

G06F2157 G06F865 G06F1122

代理机构：

北京金信知识产权代理有限公司 11225

代理人：

喻嵘

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-30	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

水洋为 ;

唐苗苗 ;

孙铭鸿 .

中国专利 :CN120631754A ,2025-09-12

[2]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

王越 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

苏畅 ;

周荣林 ;

高建瓴 .

中国专利 :CN113220597B ,2024-04-16

[3]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

张珺 ;

农华莲 ;

韩照光 .

中国专利 :CN113297088A ,2021-08-24

[4]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

王越 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

苏畅 ;

周荣林 ;

高建瓴 .

中国专利 :CN113220597A ,2021-08-06

[5]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

赵建秀 .

中国专利 :CN113190456B ,2024-03-26

[6]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

赵建秀 .

中国专利 :CN113190456A ,2021-07-30

[7]

测试方法、测试装置、存储介质及电子设备 [P].

刘孙春 .

中国专利 :CN118694840A ,2024-09-24

[8]

测试方法、测试装置、电子设备及可读存储介质 [P].

钟瑞 ;

郑重 ;

刘明磊 ;

陈壮壮 .

中国专利 :CN111813694B ,2024-03-15

[9]

测试方法、测试装置、电子设备及可读存储介质 [P].

钟瑞 ;

郑重 ;

刘明磊 ;

陈壮壮 .

中国专利 :CN111813694A ,2020-10-23

[10]

测试方法、测试装置、电子设备和存储介质 [P].

夏仕钦 .

中国专利 :CN118051422A ,2024-05-17

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