定价系统的测试方法、装置、介质及电子设备

被引：0

申请号：

CN202210680139.X

申请日：

2022-06-16

公开(公告)号：

CN114996147A

公开(公告)日：

2022-09-02

发明(设计)人：

戚涛东肖婷梁娟顾申杰

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区深南东路5047号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

深圳市联鼎知识产权代理有限公司 44232

代理人：

孙强

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220616
2022-09-02	公开	公开

共 50 条

[1]

代码测试方法、装置、介质及电子设备 [P].

高文冠 .

中国专利 :CN119902971A ,2025-04-29

[2]

系统测试方法、装置、电子设备及可读介质 [P].

张洪臣 ;

李雪峰 .

中国专利 :CN118484402B ,2024-10-01

[3]

测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

许春 ;

路明远 ;

周春法 .

中国专利 :CN118585308A ,2024-09-03

[4]

测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

许春 ;

路明远 ;

周春法 .

中国专利 :CN118585308B ,2024-11-26

[5]

系统测试方法、装置、电子设备及可读介质 [P].

张洪臣 ;

李雪峰 .

中国专利 :CN118484402A ,2024-08-13

[6]

测试方法、装置、介质及电子设备 [P].

郑如刚 .

中国专利 :CN111459798A ,2020-07-28

[7]

测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

张志文 ;

郭文平 .

中国专利 :CN113836021A ,2021-12-24

[8]

测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

张志文 ;

郭文平 .

中国专利 :CN113836021B ,2024-10-08

[9]

接口测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

刘彬伟 ;

李德才 ;

沈玮一 ;

刘旭宏 .

中国专利 :CN109189622A ,2019-01-11

[10]

测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

余家奎 ;

芦辉 ;

占翔林 ;

李方鹏 ;

柯军 .

中国专利 :CN112783788A ,2021-05-11

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