测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411027552.1
申请日
2024-07-30
公开(公告)号
CN118585308B
公开(公告)日
2024-11-26
发明(设计)人
许春 路明远 周春法
申请人
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址
215128 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
G06F9/48
IPC分类号
G06F9/50 G06F11/22
代理机构
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人
聂俊伟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
许春 ;
路明远 ;
周春法 .
中国专利 :CN118585308A ,2024-09-03
[2]
代码测试系统、方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李文凯 ;
毛伟 ;
钟顺此 .
中国专利 :CN114637511A ,2022-06-17
[3]
测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P]. 
余家奎 ;
芦辉 ;
占翔林 ;
李方鹏 ;
柯军 .
中国专利 :CN112783788A ,2021-05-11
[4]
应用测试方法、装置、系统、电子设备和存储介质 [P]. 
李秋林 ;
任星旺 .
中国专利 :CN112650670B ,2024-07-16
[5]
应用测试方法、装置、系统、电子设备和存储介质 [P]. 
李秋林 ;
任星旺 .
中国专利 :CN112650670A ,2021-04-13
[6]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何俊 ;
马振克 ;
沈卫杰 .
中国专利 :CN118012687A ,2024-05-10
[7]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙绍宗 .
中国专利 :CN117851265A ,2024-04-09
[8]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王芸红 .
中国专利 :CN120295843A ,2025-07-11
[9]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘俊启 ;
谷铁峰 ;
姬路涛 .
中国专利 :CN115964277B ,2025-11-18
[10]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
韩玉祥 ;
梁雨霏 .
中国专利 :CN114756473A ,2022-07-15