航天器中电子设备的浪涌电流测试系统及测试方法

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专利类型
发明
申请号
CN201710894569.0
申请日
2017-09-28
公开(公告)号
CN107843759A
公开(公告)日
2018-03-27
发明(设计)人
孟宪会 何宇 李智勇 南洪涛
申请人
申请人地址
100094 北京市海淀区友谊路104号院
IPC主分类号
G01R1900
IPC分类号
G01R1302
代理机构
北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11538
代理人
陆鑫;延慧
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
航天器自主温控系统闭环测试系统及测试方法 [P]. 
吴侃侃 ;
魏晓阳 ;
郭艳丽 ;
陈德相 ;
范颖婷 ;
蒯文林 ;
黄思琴 ;
颜俊菁 ;
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[2]
电子设备的测试系统及测试方法 [P]. 
杨振西 ;
吴安华 .
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[3]
载人航天器远程测试系统 [P]. 
何永丛 ;
潘顺良 ;
杨枫 ;
任亮 .
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[4]
电子设备的测试系统及测试方法 [P]. 
方冠臻 .
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[5]
电子设备的测试系统及测试方法 [P]. 
方冠臻 .
中国专利 :CN115333647B ,2025-02-21
[6]
电子设备的测试方法、测试服务器及测试系统 [P]. 
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[7]
适用于航天器综合电子软件基于模型的测试系统及测试方法 [P]. 
董振辉 ;
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刘益铭 ;
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[8]
一种用于航天器测试的测试方法 [P]. 
刁伟鹤 ;
张福生 ;
郑伟 ;
程超 ;
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魏邦友 .
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[9]
用于航天器密封舱压力防护系统的测试系统及测试方法 [P]. 
王晶 ;
李西园 ;
毕研强 ;
纪欣言 ;
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武越 ;
方明元 .
中国专利 :CN110525698B ,2019-12-03
[10]
一种航天器测试系统 [P]. 
黄连兵 ;
田国亮 ;
赵攀 ;
尹桂松 .
中国专利 :CN108155953A ,2018-06-12