一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410673662.5

申请日：

2014-11-21

公开(公告)号：

CN104345293B

公开(公告)日：

2015-02-11

发明(设计)人：

张军朱琦叶剑涛卢冰李伟付济良李炯

申请人：

申请人地址：

100031 北京市西城区西长安街68号

IPC主分类号：

G01R3500

IPC分类号：

代理机构：

北京国林贸知识产权代理有限公司 11001

代理人：

李桂玲;杜国庆

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-29	授权	授权
2015-02-11	公开	公开
2018-11-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20141121 授权公告日:20160629 终止日期:20171121

共 50 条

[1]

一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置 [P].

王贻平 ;

朱琦 ;

李伟 ;

卢冰 ;

王庆军 ;

付济良 ;

李炯 .

中国专利 :CN204241678U ,2015-04-01

[2]

一种高电压电容介质损耗因数标准校正装置 [P].

卢冰 ;

朱琦 ;

陆巍 ;

张军 ;

叶剑涛 ;

付济良 ;

李炯 .

中国专利 :CN204331006U ,2015-05-13

[3]

一种高稳定性的介质损耗因数标准器 [P].

吕泽承 ;

吴秋莉 ;

朱时阳 ;

赵坚 .

中国专利 :CN107621573A ,2018-01-23

[4]

一种介质损耗因数标准器 [P].

黄如生 ;

何云板 .

中国专利 :CN206671528U ,2017-11-24

[5]

一种介质损耗因数标准器 [P].

吕泽承 ;

吴秋莉 ;

赵坚 ;

朱时阳 .

中国专利 :CN207232364U ,2018-04-13

[6]

一种高电压下测试介质损耗的装置 [P].

王敏 ;

蒋延磊 ;

钱泽文 ;

郑俊洋 ;

王学礼 ;

王贺 ;

王向敏 ;

赵志南 .

中国专利 :CN201852888U ,2011-06-01

[7]

一种高电压下测试介质损耗的装置 [P].

王敏 ;

蒋延磊 ;

钱泽文 ;

郑俊洋 ;

王学礼 ;

王贺 ;

王向敏 ;

赵志南 .

中国专利 :CN102043099A ,2011-05-04

[8]

一种用于高电压介质损耗测试的反接单元内置的标准电容器 [P].

李炯 ;

干元锋 ;

姚琪 .

中国专利 :CN202013809U ,2011-10-19

[9]

一种用于高电压介质损耗测试的反接单元内置的标准电容器 [P].

李炯 ;

干元锋 ;

姚琪 .

中国专利 :CN102142314B ,2011-08-03

[10]

一种介质损耗因数测量装置 [P].

文峰 ;

胡绍勇 ;

王宇 ;

尹贵伦 ;

胡立信 ;

刘钦 ;

吕良飞 ;

吕良越 .

中国专利 :CN204101642U ,2015-01-14

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