一种用于高电压介质损耗测试的反接单元内置的标准电容器

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020627102.3

申请日：

2010-11-26

公开(公告)号：

CN202013809U

公开(公告)日：

2011-10-19

发明(设计)人：

李炯干元锋姚琪

申请人：

申请人地址：

201322 上海市浦东新区六灶镇鹿园工业区鹿吉路91—3

IPC主分类号：

H01G4002

IPC分类号：

G01R1500 G01R2726

代理机构：

上海天翔知识产权代理有限公司 31224

代理人：

吕伴

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-01-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101643098497 IPC(主分类):H01G 4/002 专利号:ZL2010206271023 申请日:20101126 授权公告日:20111019 终止日期:20141126
2011-10-19	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于高电压介质损耗测试的反接单元内置的标准电容器 [P].

李炯 ;

干元锋 ;

姚琪 .

中国专利 :CN102142314B ,2011-08-03

[2]

一种高电压标准电容器 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN202839308U ,2013-03-27

[3]

一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置 [P].

王贻平 ;

朱琦 ;

李伟 ;

卢冰 ;

王庆军 ;

付济良 ;

李炯 .

中国专利 :CN204241678U ,2015-04-01

[4]

一种高电压标准电容器 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN102800476B ,2012-11-28

[5]

一种高电压下测试介质损耗的装置 [P].

王敏 ;

蒋延磊 ;

钱泽文 ;

郑俊洋 ;

王学礼 ;

王贺 ;

王向敏 ;

赵志南 .

中国专利 :CN201852888U ,2011-06-01

[6]

一种高电压下测试介质损耗的装置 [P].

王敏 ;

蒋延磊 ;

钱泽文 ;

郑俊洋 ;

王学礼 ;

王贺 ;

王向敏 ;

赵志南 .

中国专利 :CN102043099A ,2011-05-04

[7]

一种高电压电容介质损耗因数标准校正装置 [P].

卢冰 ;

朱琦 ;

陆巍 ;

张军 ;

叶剑涛 ;

付济良 ;

李炯 .

中国专利 :CN204331006U ,2015-05-13

[8]

一种用于高电压电容介质损耗因数标准校正的介质虚拟装置 [P].

张军 ;

朱琦 ;

叶剑涛 ;

卢冰 ;

李伟 ;

付济良 ;

李炯 .

中国专利 :CN104345293B ,2015-02-11

[9]

一种高电压介质损耗测试装置 [P].

周鸿伟 ;

徐志坚 ;

孙庆龙 ;

包勇强 ;

张黎琳 ;

卢静文 ;

王娟 .

中国专利 :CN201555905U ,2010-08-18

[10]

一种用于高电压电力电容器的套管 [P].

舒旭辉 .

中国专利 :CN202443863U ,2012-09-19

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