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光场成像设备及其制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201610322114.7
申请日
:
2016-05-16
公开(公告)号
:
CN106899789A
公开(公告)日
:
2017-06-27
发明(设计)人
:
金钟殷
申请人
:
申请人地址
:
韩国京畿道
IPC主分类号
:
H04N5225
IPC分类号
:
G02B300
代理机构
:
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363
代理人
:
李少丹;许伟群
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-02-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 5/225 申请日:20160516
2017-06-27
公开
公开
2020-04-28
授权
授权
共 50 条
[1]
光场成像装置
[P].
丁志宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
丁志宇
.
中国专利
:CN107509015A
,2017-12-22
[2]
光场成像装置
[P].
丁志宇
论文数:
0
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0
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0
丁志宇
.
中国专利
:CN207200848U
,2018-04-06
[3]
光场成像模组
[P].
王兆民
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0
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0
王兆民
;
许星
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许星
.
中国专利
:CN207691911U
,2018-08-03
[4]
光场成像模组
[P].
王兆民
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0
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0
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王兆民
;
许星
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许星
.
中国专利
:CN108174068A
,2018-06-15
[5]
具有光场图像传感器的成像设备
[P].
何端峰
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0
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何端峰
;
V·格尔维奇
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0
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0
V·格尔维奇
;
D·P·戈伦
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D·P·戈伦
;
N-Q·樊
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N-Q·樊
.
中国专利
:CN104137117A
,2014-11-05
[6]
光场成像系统的校准
[P].
马库斯·鲍姆加特
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机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
马库斯·鲍姆加特
;
蒂博尔·拜赖茨基
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机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
蒂博尔·拜赖茨基
;
亚克·普里博斯克
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机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
亚克·普里博斯克
;
扬·施泰因布伦纳
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机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
扬·施泰因布伦纳
;
安德烈亚斯·托尔特沙诺夫
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机构:
分子装置(奥地利)有限公司
分子装置(奥地利)有限公司
安德烈亚斯·托尔特沙诺夫
.
:CN113412441B
,2024-09-24
[7]
光场成像系统的校准
[P].
马库斯·鲍姆加特
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马库斯·鲍姆加特
;
蒂博尔·拜赖茨基
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蒂博尔·拜赖茨基
;
亚克·普里博斯克
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亚克·普里博斯克
;
扬·施泰因布伦纳
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扬·施泰因布伦纳
;
安德烈亚斯·托尔特沙诺夫
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安德烈亚斯·托尔特沙诺夫
.
中国专利
:CN113412441A
,2021-09-17
[8]
小体积的光场成像模组
[P].
王兆民
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王兆民
;
许星
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0
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许星
.
中国专利
:CN207691912U
,2018-08-03
[9]
透镜阵列及其制造方法、固态成像设备和电子设备
[P].
大塚洋一
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0
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大塚洋一
;
西木户健树
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0
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西木户健树
;
葭叶一平
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葭叶一平
.
中国专利
:CN105556672B
,2016-05-04
[10]
光场成像系统
[P].
覃政
论文数:
0
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0
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0
覃政
.
中国专利
:CN105635530B
,2016-06-01
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