一种基于位相编码元件的结构光三维形貌测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110615700.1

申请日：

2021-06-02

公开(公告)号：

CN113237437A

公开(公告)日：

2021-08-10

发明(设计)人：

马锁冬严祺许峰陈旭

申请人：

申请人地址：

215137 江苏省苏州市相城区济学路8号

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司 32103

代理人：

陶海锋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-10	公开	公开
2021-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20210602

共 50 条

[1]

一种基于光学位相元件的结构光三维形貌测量装置 [P].

马锁冬 ;

严祺 ;

许峰 ;

陈旭 .

中国专利 :CN215114433U ,2021-12-10

[2]

一种基于位相编码元件的三维结构光检测装置 [P].

许峰 ;

童强 ;

马锁东 ;

陈旭 .

中国专利 :CN215296171U ,2021-12-24

[3]

一种基于位相编码元件的三维结构光检测装置及方法 [P].

许峰 ;

童强 ;

马锁东 ;

陈旭 .

中国专利 :CN113418473A ,2021-09-21

[4]

一种基于二维编码的三维形貌测量方法 [P].

周钢 ;

王从军 ;

李中伟 ;

杜俊贤 ;

朱本璋 ;

李晓宁 ;

张贵姣 .

中国专利 :CN101089551A ,2007-12-19

[5]

一种光学三维形貌测量方法 [P].

赵宏 ;

张春伟 .

中国专利 :CN105953749A ,2016-09-21

[6]

一种基于相位测量的物体三维形貌测量方法及系统 [P].

任峰 ;

黄延平 ;

蒋正英 ;

张观欣 ;

轩洋 ;

孙成富 ;

时伟 .

中国专利 :CN102261896A ,2011-11-30

[7]

一种基于衍射编码相位板的条纹投影三维形貌测量方法及装置 [P].

马锁冬 ;

严祺 ;

沈贤蒙 .

中国专利 :CN113551618B ,2021-10-26

[8]

一种纳米结构三维形貌测量方法及装置 [P].

刘世元 ;

张传维 ;

陈修国 .

中国专利 :CN101881599A ,2010-11-10

[9]

一种基于衍射光学元件的条纹投影三维形貌测量装置 [P].

马锁冬 ;

严祺 ;

沈贤蒙 .

中国专利 :CN215338216U ,2021-12-28

[10]

一种结构光三维形貌测量装置 [P].

刘浪 ;

庞淑屏 ;

万小新 ;

刘威 ;

战玉臣 .

中国专利 :CN201974160U ,2011-09-14

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