一种纳米结构三维形貌测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010223106.X

申请日：

2010-07-12

公开(公告)号：

CN101881599A

公开(公告)日：

2010-11-10

发明(设计)人：

刘世元张传维陈修国

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1124

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

曹葆青

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-11-10	公开	公开
2010-12-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101026283019 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:201010223106X 申请日:20100712
2012-01-25	授权	授权
2018-02-16	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01B 11/00 登记生效日:20180130 变更事项:专利权人变更前权利人:华中科技大学变更后权利人:武汉颐光科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号变更后权利人:430075 湖北省武汉市高新大道999号未来科技城G区C2座206室

共 50 条

[1]

三维形貌的测量方法及测量装置 [P].

黄鑫 .

中国专利 :CN112212815B ,2025-04-04

[2]

三维形貌的测量方法及测量装置 [P].

黄鑫 .

中国专利 :CN112212815A ,2021-01-12

[3]

线条三维形貌测量方法及线宽测量方法 [P].

高思田 ;

李伟 ;

王鹤群 ;

施玉书 ;

李琪 ;

李适 .

中国专利 :CN105157557A ,2015-12-16

[4]

一种纳米结构三维形貌小角X射线散射测量方法及装置 [P].

刘世元 ;

陈修国 ;

杨天娟 ;

马健源 ;

刘章勇 ;

张家豪 .

中国专利 :CN114608494B ,2022-06-10

[5]

一种结构光三维形貌测量装置 [P].

刘浪 ;

庞淑屏 ;

万小新 ;

刘威 ;

战玉臣 .

中国专利 :CN201974160U ,2011-09-14

[6]

一种三维形貌测量系统及高度测量方法 [P].

刘璐宁 ;

郑增强 ;

欧昌东 ;

苗丹 ;

姜雯 .

中国专利 :CN120820095A ,2025-10-21

[7]

一种剪切干涉变焦三维形貌测量方法及测量系统 [P].

朱金龙 ;

张楚苗 ;

于哲 .

中国专利 :CN120293030A ,2025-07-11

[8]

一种镜面物体三维形貌测量方法及装置 [P].

张宗华 ;

王月敏 ;

高楠 ;

孟召宗 .

中国专利 :CN109357632A ,2019-02-19

[9]

一种高温物体自动化三维形貌测量装置及测量方法 [P].

李中伟 ;

史玉升 ;

韩利亚 ;

钟凯 ;

杨瑞文 ;

韩沛文 ;

叶浩 ;

郑伟涛 .

中国专利 :CN106908015A ,2017-06-30

[10]

一种基于数字全息扫描的三维形貌测量装置及测量方法 [P].

姚震 ;

吴易明 ;

樊鹏格 ;

朱帆 ;

尹逊龙 .

中国专利 :CN106643550B ,2017-05-10

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