Pin Hole晶圆检查机

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110986872.X
申请日
2021-08-26
公开(公告)号
CN113725109A
公开(公告)日
2021-11-30
发明(设计)人
颜博
申请人
申请人地址
215200 江苏省苏州市吴江区太湖新城中山南路568号兰生沃德威互联网产业园25幢101-1
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
H01L21677 H01L2168
代理机构
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人
方中
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
Pin Hole晶圆检查机 [P]. 
颜博 .
中国专利 :CN113725109B ,2024-01-05
[2]
Pin Hole晶圆检查机 [P]. 
颜博 .
中国专利 :CN215527674U ,2022-01-14
[3]
晶圆粗糙度检查装置及晶圆检查机 [P]. 
蔡全益 ;
许仁玮 ;
林修纬 ;
汤逢成 ;
张仁明 ;
何国诚 ;
陈正锴 .
中国专利 :CN220670473U ,2024-03-26
[4]
晶圆外观检查机 [P]. 
郁俊 .
中国专利 :CN307140931S ,2022-03-04
[5]
晶圆运载检查机 [P]. 
赵本晶 .
中国专利 :CN309294607S ,2025-05-16
[6]
全自动晶圆表面检查机以及晶圆检查方法 [P]. 
郑隆结 ;
肖宇航 ;
曹雄珍 ;
孙会民 .
中国专利 :CN118549460A ,2024-08-27
[7]
半自动晶圆表面检查机以及晶圆检查方法 [P]. 
郑隆结 ;
肖宇航 ;
曹雄珍 ;
孙会民 .
中国专利 :CN118566240B ,2024-12-03
[8]
半自动晶圆表面检查机以及晶圆检查方法 [P]. 
郑隆结 ;
肖宇航 ;
曹雄珍 ;
孙会民 .
中国专利 :CN118566240A ,2024-08-30
[9]
全自动晶圆表面检查机以及晶圆检查方法 [P]. 
郑隆结 ;
肖宇航 ;
曹雄珍 ;
孙会民 .
中国专利 :CN118549460B ,2024-11-19
[10]
晶圆检查装置、晶圆检查系统、晶圆检查方法以及程序 [P]. 
佐佐木和博 .
日本专利 :CN120917555A ,2025-11-07