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Pin Hole晶圆检查机
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110986872.X
申请日
:
2021-08-26
公开(公告)号
:
CN113725109A
公开(公告)日
:
2021-11-30
发明(设计)人
:
颜博
申请人
:
申请人地址
:
215200 江苏省苏州市吴江区太湖新城中山南路568号兰生沃德威互联网产业园25幢101-1
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
H01L21677
H01L2168
代理机构
:
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人
:
方中
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-17
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20210826
2021-11-30
公开
公开
共 50 条
[1]
Pin Hole晶圆检查机
[P].
颜博
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州新尚思自动化设备有限公司
苏州新尚思自动化设备有限公司
颜博
.
中国专利
:CN113725109B
,2024-01-05
[2]
Pin Hole晶圆检查机
[P].
颜博
论文数:
0
引用数:
0
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0
颜博
.
中国专利
:CN215527674U
,2022-01-14
[3]
晶圆粗糙度检查装置及晶圆检查机
[P].
蔡全益
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0
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机构:
台达电子工业股份有限公司
台达电子工业股份有限公司
蔡全益
;
许仁玮
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机构:
台达电子工业股份有限公司
台达电子工业股份有限公司
许仁玮
;
林修纬
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机构:
台达电子工业股份有限公司
台达电子工业股份有限公司
林修纬
;
汤逢成
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机构:
台达电子工业股份有限公司
台达电子工业股份有限公司
汤逢成
;
张仁明
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机构:
台达电子工业股份有限公司
台达电子工业股份有限公司
张仁明
;
何国诚
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机构:
台达电子工业股份有限公司
台达电子工业股份有限公司
何国诚
;
陈正锴
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机构:
台达电子工业股份有限公司
台达电子工业股份有限公司
陈正锴
.
中国专利
:CN220670473U
,2024-03-26
[4]
晶圆外观检查机
[P].
郁俊
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0
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郁俊
.
中国专利
:CN307140931S
,2022-03-04
[5]
晶圆运载检查机
[P].
赵本晶
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机构:
东莞威仪嘉自动化设备有限公司
东莞威仪嘉自动化设备有限公司
赵本晶
.
中国专利
:CN309294607S
,2025-05-16
[6]
全自动晶圆表面检查机以及晶圆检查方法
[P].
郑隆结
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
郑隆结
;
肖宇航
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
肖宇航
;
曹雄珍
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
曹雄珍
;
孙会民
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
孙会民
.
中国专利
:CN118549460A
,2024-08-27
[7]
半自动晶圆表面检查机以及晶圆检查方法
[P].
郑隆结
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
郑隆结
;
肖宇航
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
肖宇航
;
曹雄珍
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
曹雄珍
;
孙会民
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
孙会民
.
中国专利
:CN118566240B
,2024-12-03
[8]
半自动晶圆表面检查机以及晶圆检查方法
[P].
郑隆结
论文数:
0
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0
机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
郑隆结
;
肖宇航
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
肖宇航
;
曹雄珍
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
曹雄珍
;
孙会民
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
孙会民
.
中国专利
:CN118566240A
,2024-08-30
[9]
全自动晶圆表面检查机以及晶圆检查方法
[P].
郑隆结
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0
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
郑隆结
;
肖宇航
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0
机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
肖宇航
;
曹雄珍
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机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
曹雄珍
;
孙会民
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0
机构:
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
柯尔微电子装备(厦门)有限公司
孙会民
.
中国专利
:CN118549460B
,2024-11-19
[10]
晶圆检查装置、晶圆检查系统、晶圆检查方法以及程序
[P].
佐佐木和博
论文数:
0
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0
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0
机构:
同和电子科技有限公司
同和电子科技有限公司
佐佐木和博
.
日本专利
:CN120917555A
,2025-11-07
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