测试探针

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202021909517.X
申请日
2020-09-03
公开(公告)号
CN213750022U
公开(公告)日
2021-07-20
发明(设计)人
蔡宗明 曾翔 蔡明峻 李尧
申请人
申请人地址
523000 广东省东莞市虎门镇虎门南面路10号
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
张艳美;毛伟碧
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[41]
测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN212845744U ,2021-03-30
[42]
双筒测试探针装置 [P]. 
张春元 ;
金传国 ;
赵青 .
中国专利 :CN223051471U ,2025-07-01
[43]
测试探针与探针固定座 [P]. 
游建进 ;
陈锡铭 .
中国专利 :CN202133687U ,2012-02-01
[44]
大电流测试探针 [P]. 
涂炳超 .
中国专利 :CN223362236U ,2025-09-19
[45]
电池测试探针组件 [P]. 
蒋文彬 ;
文志雄 ;
王龙喜 ;
李金林 .
中国专利 :CN207675802U ,2018-07-31
[46]
高频测试探针模组 [P]. 
王国华 ;
唐怀东 .
中国专利 :CN217034055U ,2022-07-22
[47]
1200A测试探针 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN220626477U ,2024-03-19
[48]
同轴高压测试探针 [P]. 
黄利红 .
中国专利 :CN220854983U ,2024-04-26
[49]
精密测试探针模组 [P]. 
黄香山 .
中国专利 :CN205263145U ,2016-05-25
[50]
转子测试探针结构 [P]. 
郭恒 .
中国专利 :CN216350855U ,2022-04-19