测试装置、测试方法和移相器

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200980124402.X
申请日
2009-07-09
公开(公告)号
CN102317803A
公开(公告)日
2012-01-11
发明(设计)人
田村贤仁
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01R31319
IPC分类号
G11C2956
代理机构
北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015
代理人
齐永红
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
测试装置及测试方法 [P]. 
田村贤仁 .
中国专利 :CN102077104A ,2011-05-25
[2]
移相器的测试装置及测试方法 [P]. 
刘正东 .
中国专利 :CN110927453B ,2020-03-27
[3]
液晶移相器和液晶天线的测试方法和测试装置 [P]. 
扈映茹 ;
申劲浩 ;
郭晓龙 ;
李瑞博 ;
段勤肄 ;
何宁 ;
侯东全 ;
杨作财 ;
王东花 .
中国专利 :CN114063324B ,2024-01-16
[4]
液晶移相器和液晶天线的测试方法和测试装置 [P]. 
扈映茹 ;
申劲浩 ;
郭晓龙 ;
李瑞博 ;
段勤肄 ;
何宁 ;
侯东全 ;
杨作财 ;
王东花 .
中国专利 :CN114063324A ,2022-02-18
[5]
测试装置及测试方法 [P]. 
秋田德则 .
中国专利 :CN102119337A ,2011-07-06
[6]
测试装置和测试方法 [P]. 
李勃 ;
谭锡毅 ;
吴俊 .
中国专利 :CN120507141A ,2025-08-19
[7]
测试装置与测试方法 [P]. 
寒竹秀介 .
中国专利 :CN1934455B ,2007-03-21
[8]
应力测试方法和测试装置 [P]. 
K·B·阿加瓦尔 ;
N·哈比布 ;
J·D·海斯 ;
J·G·麦西 ;
A·W·斯特朗 .
中国专利 :CN101923141B ,2010-12-22
[9]
基于NVMe的测试装置的测试方法、测试装置和测试设备 [P]. 
黄志铭 ;
李宥儒 .
中国专利 :CN118796577A ,2024-10-18
[10]
测试装置和测试设备 [P]. 
王笃志 ;
叶庆丰 ;
任少滕 ;
李艳坤 ;
郭立新 .
中国专利 :CN221706918U ,2024-09-13