应力测试方法和测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201010198524.8
申请日
2010-06-07
公开(公告)号
CN101923141B
公开(公告)日
2010-12-22
发明(设计)人
K·B·阿加瓦尔 N·哈比布 J·D·海斯 J·G·麦西 A·W·斯特朗
申请人
申请人地址
美国纽约
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R3126
代理机构
北京市中咨律师事务所 11247
代理人
于静;杨晓光
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
薄膜应力测试装置和薄膜应力测试方法 [P]. 
张建华 ;
洪正 ;
殷录桥 .
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[2]
测试装置和测试方法 [P]. 
李勃 ;
谭锡毅 ;
吴俊 .
中国专利 :CN120507141A ,2025-08-19
[3]
显示面板的应力测试装置及应力测试方法 [P]. 
蔡振飞 .
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[4]
半导体测试系统、设计方法、测试方法和测试装置 [P]. 
鹿祥宾 ;
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贺骏 ;
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刘佳艺 ;
鲁鹏 ;
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张肖 ;
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[5]
材料应力腐蚀的测试装置和测试方法 [P]. 
武焕春 ;
刘会强 ;
方可伟 ;
刘向兵 ;
徐超亮 ;
董海涛 ;
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[6]
测试装置、测试方法和移相器 [P]. 
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[7]
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邢海军 ;
李清华 ;
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韩军科 ;
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曹晔辉 ;
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[8]
测试应力松弛的测试装置及测试方法 [P]. 
彭文骏 ;
董强 ;
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[9]
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黄志铭 ;
李宥儒 .
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[10]
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陆亚中 ;
李健 ;
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