测试系统及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710550024.8
申请日
2017-07-07
公开(公告)号
CN107341081A
公开(公告)日
2017-11-10
发明(设计)人
李凡 樊苑苑
申请人
申请人地址
100088 北京市西城区新街口外大街28号D座112室(德胜园区)
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
代理机构
北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276
代理人
宋菲;刘兰兰
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[21]
测试装置、测试系统及测试方法 [P]. 
江志伟 ;
黄纯青 ;
李振东 ;
梁景洲 ;
蔡小洪 ;
李致亮 .
中国专利 :CN114545138A ,2022-05-27
[22]
测试系统、测试方法及测试装置 [P]. 
北川和则 .
中国专利 :CN103686831A ,2014-03-26
[23]
激光功率测试系统、方法及存储介质 [P]. 
何高锋 ;
刘惠娟 ;
蒋峰 .
中国专利 :CN108195463A ,2018-06-22
[24]
车辆碰撞测试系统及测试方法 [P]. 
郭建保 ;
侯福震 ;
王刚 ;
刘涛 ;
李月 ;
董寄光 ;
董睿 ;
沈建辉 ;
王文璞 ;
岳国辉 ;
刘珍海 .
中国专利 :CN119469800A ,2025-02-18
[25]
霍尔器件测试系统及测试方法 [P]. 
王生 ;
张松鹤 ;
李翔 .
中国专利 :CN115128424A ,2022-09-30
[26]
液晶盒测试系统及测试方法 [P]. 
向勇 ;
骆志锋 .
中国专利 :CN107942546A ,2018-04-20
[27]
多雷达测试系统及测试方法 [P]. 
彭刚 ;
潘攀 ;
鲁宏涛 ;
邹建发 ;
张庆 ;
林郁 .
中国专利 :CN118938148A ,2024-11-12
[28]
驱动板测试系统及测试方法 [P]. 
马军 ;
李业生 ;
梁炎文 .
中国专利 :CN108181574B ,2018-06-19
[29]
测试系统、测试方法和测试系统用程序存储介质 [P]. 
道北俊行 ;
川添宽 ;
古川和树 ;
廣濑翼 ;
盐见健司 .
日本专利 :CN117693673A ,2024-03-12
[30]
功率模块测试系统及测试方法 [P]. 
姚宏洋 ;
谢晔源 ;
姜田贵 ;
卢宇 ;
欧阳有鹏 ;
周谷庆 .
中国专利 :CN114089211A ,2022-02-25