测量光源和用于检测反射光谱的测量系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721111580.7

申请日：

2017-08-31

公开(公告)号：

CN207778340U

公开(公告)日：

2018-08-28

发明(设计)人：

约尔格·马格拉夫托马斯·科伊内

申请人：

申请人地址：

德国耶拿

IPC主分类号：

F21V700

IPC分类号：

G01N2147 G01N2157 G01J310

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

杨靖;车文

法律状态：

避免重复授权放弃专利权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-04	避免重复授权放弃专利权	避免重复授予专利权 IPC(主分类):F21V 7/00 申请日:20170831 授权公告日:20180828 放弃生效日:20200904
2018-08-28	授权	授权

共 50 条

[1]

测量光源和用于检测反射光谱的测量系统 [P].

约尔格·马格拉夫 ;

托马斯·科伊内 .

中国专利 :CN107795960A ,2018-03-13

[2]

测量光源以及用于检测反射光谱的测量设施 [P].

约尔格·马格拉夫 .

中国专利 :CN113711011A ,2021-11-26

[3]

测量光源以及用于检测反射光谱的测量设施 [P].

约尔格·马格拉夫 .

德国专利 :CN113711011B ,2024-11-08

[4]

测量光源以及用于检测样本的绝对反射光谱的测量装置 [P].

约尔格·马格拉夫 .

中国专利 :CN210119290U ,2020-02-28

[5]

反射光谱测量用光路系统及反射光谱测量装置 [P].

吴晋龙 ;

刘海军 ;

韩浩 .

中国专利 :CN118168657B ,2024-12-03

[6]

反射光谱测量用光路系统及反射光谱测量装置 [P].

吴晋龙 ;

刘海军 ;

韩浩 .

中国专利 :CN118168657A ,2024-06-11

[7]

一种基于LED光源的反射光谱测量仪 [P].

廖浩然 ;

叶朝达 ;

舒全回 ;

陈加男 ;

袁琨 .

中国专利 :CN204255502U ,2015-04-08

[8]

新型反射光谱测量装置 [P].

蔡成周 .

中国专利 :CN207586124U ,2018-07-06

[9]

目标多角度反射光谱实验室测量系统 [P].

马茵驰 ;

丁文 .

中国专利 :CN205691231U ,2016-11-16

[10]

漫反射光谱测量装置 [P].

李晨曦 ;

徐可欣 ;

李胜 ;

汤海涛 ;

赵丕成 .

中国专利 :CN209745812U ,2019-12-06

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